一、基本原理

 

　　白光干涉儀是基于干涉原理進行工作的一種測量工具。干涉現(xiàn)象是指兩束或多束光波相遇時，它們的相位發(fā)生變化，從而在空間的不同位置形成明暗相間的條紋。這些條紋的變化與光的相位差以及光路差有著密切關(guān)系。

 

　　在白光干涉儀中，使用的“白光”是指包含多個波長的寬光譜光源。與傳統(tǒng)的單色光干涉儀相比，它具有更寬的光譜范圍，因此能夠提供更高的測量分辨率。這種光源的寬光譜特性使得它在進行高度精確測量時，可以避免使用單一波長光源可能帶來的誤差。

 

　　干涉儀的基本工作過程是：光源發(fā)出的白光通過分束器分成兩束光，其中一束光照射到待測物體表面，另一束光通過參照鏡面反射回到干涉儀的干涉區(qū)域。當這兩束光重新匯聚時，由于它們的相位發(fā)生了變化，就會形成干涉條紋。通過分析這些干涉條紋，可以精確地獲得物體表面的微小形變或缺陷信息。

 

　　二、工作機制

 

　　白光干涉儀的工作機制涉及多個關(guān)鍵部分，包括光源、分束器、參考鏡、待測物體和探測器。每個部分的功能密切配合，共同實現(xiàn)對物體表面的精確測量。

 

　　1.光源和分束器

 

　　它的光源通常是高亮度的白光LED或白光激光，它能夠發(fā)出寬光譜的光。光源發(fā)出的光經(jīng)過分束器被分成兩束，一束光照射在物體表面，另一束光則直接進入?yún)⒖肩R。

 

　　2.參考鏡和物體表面

 

　　一束光被引導至待測物體表面，經(jīng)過反射后與另一束經(jīng)過參考鏡反射的光相遇。待測物體表面的微小凹凸或形變將改變反射光的相位，進而影響兩束光的干涉效果。

 

　　3.干涉條紋的形成

 

　　這兩束光在干涉儀的干涉區(qū)域重新匯聚，產(chǎn)生干涉條紋。由于它使用的是寬光譜光源，干涉條紋的形態(tài)與光的相位差、光路差等因素密切相關(guān)。這些條紋的變化反映了物體表面的微小變化。

 

　　4.探測器與數(shù)據(jù)分析

 

　　探測器捕捉到的干涉條紋通過計算機進行分析，精確測量表面高度變化和表面缺陷。通過分析條紋的變化，可以得到表面形貌的三維圖像，從而對物體表面進行詳細的形態(tài)分析。

 

　　三、優(yōu)勢與應(yīng)用

 

　　作為一種高精度的測量儀器，具有眾多顯著優(yōu)勢。首先，能夠提供高空間分辨率，通?？梢詼y量到納米級別的表面變化，這使得它在微米和納米尺度的精確測量中具有不可替代的優(yōu)勢。其次，由于使用的是寬光譜白光，它避免了單色光干涉儀可能出現(xiàn)的色散誤差，適用于更為復雜的測量環(huán)境。

 

　　在應(yīng)用方面，廣泛應(yīng)用于表面測量、光學元件的檢測、薄膜厚度的測量以及材料的微觀形貌分析等領(lǐng)域。例如，在半導體行業(yè)中，可以用于芯片表面的檢測和測量，以確保芯片表面的平整度和精度。在生物醫(yī)學領(lǐng)域，它也可用于細胞表面形態(tài)的觀測和分析。