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X射線衍射技術(X-ray diffraction，XRD)是指通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態等信息的研究手段。工作原理：將單色X射線照到晶體樣品上，若其中一個晶粒的一組晶面取向和入射X射線夾角為θ時，滿足衍射條件，則在衍射角2θ處產生衍射。樣品中有多個晶粒并滿足衍射。通過使用X射線衍射儀的探測器以一定的角度繞樣品旋轉，接收到粉晶中不同網面、不同取向的全部衍射線，獲得相應的衍射圖譜。
X射線衍射技術應用：
（1）當材料由多種結晶成分組成，需區分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結晶相的比例。
（2）很多材料的性能由結晶程度決定，可使用XRD結晶度分析，確定材料的結晶程度。
（3）新材料開發需要充分了解材料的晶格參數，使用XRD可快捷測試出點陣參數，為新材料開發應用提供性能驗證指標。
（4）產品在使用過程中出現斷裂、變形等失效現象，可能涉及微觀應力方面影響，使用XRD可以快捷測定微觀應力。
（5）納米材料由于顆粒細小,極易形成團粒,采用通常的粒度分析儀往往會給出錯誤的數據。采用X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以測定納米粒子的平均粒徑。
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