X-123 是一款集成于小巧便攜盒體中的完整 X 射線檢測系統，可輕松握于手中。

X-123 凝聚了 Amptek 多年來在 X 射線探測器領域的研發成果。我們始終秉持 “打造小型化、低功耗、高性能且操作簡便的儀器” 理念，而 X-123 正是這一理念的  —— 它在單一封裝中集成了 XR-100CR X 射線探測器及其電荷靈敏前置放大器、配備脈沖成形器 / 多道分析器（MCA）和接口的 DP5 數字脈沖處理器，以及 PC5 電源。用戶僅需提供 + 5 V 直流輸入，并通過 USB、以太網或 RS-232 與計算機連接即可使用。

產品特點

緊湊集成系統

操作簡便

體積小巧（2.7×3.9×1 英寸，7×10×2.5 厘米）

低功耗（2.5 瓦）

重量輕盈（6.3 盎司，180 克）

支持 USB 和 RS-232 通信

應用領域

X 射線熒光分析（XRF）

符合 RoHS/WEEE 標準的檢測設備

過程控制

X 射線分揀機

藝術與考古領域

探測器選項

用于 X 射線檢測的快速硅漂移探測器（SDD）

面積：25、70 或 160 mm2

厚度：500 微米或 1000 微米

多層準直器

典型性能分辨率：在 5.9 keV 能量下，半高寬（FWHM）為 122-129 eV

最佳能量范圍：1 keV 至 40 keV

最大計數率：>1×10?次 / 秒

用于 X 射線檢測的硅 PIN 探測器

面積：6、13 或 25 mm2

厚度：500 微米

多層準直器

典型性能分辨率：在 5.9 keV 能量下，半高寬（FWHM）為 139-260 eV

最佳能量范圍：1 keV 至 40 keV

最大計數率：高達 2×10?次 / 秒

用于 X 射線和伽馬射線檢測的碲化鎘（CdTe）探測器

面積：25 mm2

厚度：1000 微米

典型性能分辨率：在鈷 - 57 源下典型值 < 1.5 keV

最佳能量范圍：5 至 100 keV

最大計數率：高達 2×10?次 / 秒