Filmetrics薄膜厚度測量儀 參考價(jià)：面議
Filmetrics薄膜厚度測量儀以真空鍍膜為設(shè)計(jì)目標(biāo)，F(xiàn)10-RT 薄膜厚度測量儀只要單擊鼠標(biāo)即可獲得反射和透射光譜。 只需簡單操作。用戶就能進(jìn)行 FWHM ...
Filmetircs光學(xué)膜厚測量儀 參考價(jià)：面議
Filmetircs光學(xué)膜厚測量儀滿足薄膜厚度范圍15nm到3mm的厚度測試系統(tǒng)，如需了解更多 光學(xué)膜厚測量儀膜厚測試儀 F3-sX 信息，咨詢。
Filmetrics 自動光反射膜厚測量儀 參考價(jià)：1
Filmetrics F60-t 自動光反射膜厚儀就像我們的F50白光干涉膜厚測量儀產(chǎn)品一樣。主要測繪薄膜厚度和折射率。但它增加了許多用于生產(chǎn)環(huán)境的功能。這些功...
Filmetrics 單點(diǎn)光學(xué)膜厚測量儀 參考價(jià)：面議
無論您是想要知道薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)，還是想要知道材料的反射率和透過率，F(xiàn)ilmetrics F20 單點(diǎn)光學(xué)膜厚測量儀都能滿足您的需要。僅需花費(fèi)幾分鐘完成安裝，...
Filmetrics 薄膜厚度測量儀 參考價(jià)：面議
Filmetrics F10-HC 薄膜厚度測量儀是以Filmetrics F20 白光干涉儀膜厚儀為基礎(chǔ)所發(fā)展而來。F10-HC 薄膜厚度測量系統(tǒng)接觸式探頭大...
Filmetrics 薄膜厚度測量儀 參考價(jià)：面議
Filmetrics F10-AR 薄膜厚度測量儀是操作簡單且高性價(jià)比的減反射與硬涂層檢測設(shè)備。Filmetrics F10-AR 薄膜厚度測量儀使得自動測試眼...
Filmetrics 光學(xué)厚膜測厚儀 參考價(jià)：面議
Filmetrics F3-sX 光學(xué)厚膜測厚儀利用光譜反射原理，可以測量厚度達(dá)到3毫米的眾多半導(dǎo)體及介電層薄膜。相對于較薄的膜層，這種厚膜的表面較粗糙且不均勻...
Filmetrics 光學(xué)膜厚測量儀 參考價(jià)：面議
Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀的光譜測量系統(tǒng)讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù)，通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內(nèi)就可測量結(jié)...
Filmetrics 光學(xué)膜厚測量儀自動化MAPPING 參考價(jià)：面議
Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀依靠光譜測量系統(tǒng)，可以簡單且快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標(biāo)移動平臺，...
Filmetrics 光學(xué)膜厚測量儀 參考價(jià)：1
Filmetrics F54 白光干涉膜厚測量儀能以一個(gè)電動R-Theta平臺自動移動到選定的測量點(diǎn)以每秒測繪兩個(gè)點(diǎn)的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達(dá)450...
Filmetrics 光學(xué)膜厚測量儀 參考價(jià)：面議
Filmetrics F32 光反射式膜厚儀特殊的光譜分析系統(tǒng)采用半寬的3u rack- mount底盤，加上附加的分光計(jì)，可達(dá)到四個(gè)不同的位置(EXR和UVX...
Filmetrics 自動測量光學(xué)膜厚儀 參考價(jià)：面議
Filmetrics F54-XYT-300 自動測量光學(xué)膜厚儀借助F54-XYT-300的光譜反射系統(tǒng)，可以快速輕松地測量200 x 200mm樣品的薄膜厚度...
Filmetrics 自動光學(xué)膜厚測量儀 參考價(jià)：面議
Filmetrics F54-XY-200 自動光學(xué)膜厚測量儀借助光譜反射系統(tǒng)，可以測量尺寸達(dá)200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的...
Filmetrics F20 白光干涉測厚儀儀 參考價(jià)：面議
Filmetrics F20 白光干涉膜厚測量儀是一款高精度、多功能的測量設(shè)備，能夠快速測定薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)、反射率和透過率等特性。其非接觸式測量方式適合各種...
Filmetrics 光學(xué)膜厚測量儀測厚儀 參考價(jià)：面議
Filmetrics 光學(xué)膜厚測量儀測厚儀嵌入式在線診斷免費(fèi)離線分析軟件精細(xì)的歷史數(shù)據(jù)功能，幫助用戶有效的存儲，重現(xiàn)與繪制測量結(jié)果(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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