探真納米科技自主研制的TZ Sharp系列大高寬比AFM探針不僅在分辨率、使用壽命等關鍵指標上優于進口同類產品，更以高性價比優勢成為AFM探針國產替代的優選。

TZ Sharp系列大高寬比AFM探針產品特點:

1、整體圓錐形針尖，擁有大高寬比，適用于各種領域采用輕敲模式的更多測試場景形貌檢測應用。如:深溝槽、陡直臺階等。探針針尖半錐角小，只有~5。

2、針尖尖更細長尖銳，相比棱錐型探針，同樣的磨損后依然很尖，使用壽命更長。

3、具有噪音低，可以掃描單原子層二維材料和亞納米的原子級臺階。

4、針托兩側側壁陡直，更容易夾取;而普通探針針托側壁是斜坡結構，夾取時容易掉落。

5、連接懸臂梁的針托未端是臺階結構設計，可以有更廣的激光入射角，對光路更加友好。