第一章緒論1
第一節X射線熒光光譜的產生及其特點1
第二節X射線熒光分析技術的新應用1
一、在生物、生命及環境領域中的應用1
二、在材料及毒性物品監測中的應用2
第三節X射線熒光光譜儀研制進展2
參考文獻3
第二章基本原理4
第一節特征X射線的產生與特性4
一、特征X射線4
二、特征譜線系5
三、譜線相對強度8
四、熒光產額8
第二節X射線吸收9
一、X射線衰減9
二、吸收邊9
三、吸收躍變10
四、質量衰減系數的計算10
第三節X射線散射11
一、相干散射11
二、非相干散射11
第四節X射線熒光光譜分析原理13
第五節X射線衍射分析13
參考文獻14
第三章激發源15
第一節常規X射線光管15
一、光管結構與工作原理15
二、連續X射線譜16
三、特征X射線譜16
四、光管特性17
第二節液體金屬陽極X射線光管18
第三節冷X射線光管19
第四節單色與選擇激發19
一、濾光片19
二、二次靶20
第五節同位素源20
第六節同步輻射光源與粒子激發21
第七節聚束毛細管X射線透鏡22
第八節X射線激光光源23
參考文獻24
第四章探測器25
第一節波長色散探測器25
一、流氣式氣體正比計數器25
二、NaI閃爍計數器26
三、波長色散探測器的逃逸峰27
第二節能量探測器28
一、能量探測原理28
二、能量探測器組成與特性28
三、能量探測器的逃逸峰30
第三節新型能量探測器30
一、Ge探測器30
二、SiPIN探測器31
三、Si漂移探測器（SDD）34
四、電耦合陣列探測器（CDD）35
五、超導躍變微熱量感應器（TES）35
六、超導隧道結探測器（STJ）36
七、CdZnTe探測器37
八、鉆石探測器（CVDD）39
九、無定形硅探測器（ASi）40
第四節各種探測器性能比較41
一、波長色散與能量色散能力41
二、探測器分辨率比較41
三、探測器的選用42
參考文獻44
第五章X熒光光譜儀47
第一節波長色散X射線熒光光譜儀47
一、X射線光管、探測器與光譜儀結構47
二、分光晶體及分辨率48
三、脈沖放大器和脈高分析器48
第二節能量色散X射線熒光光譜儀50
第三節同位素源激發X射線熒光光譜儀51
第四節偏振激發X射線熒光光譜儀52
第五節全反射X射線熒光光譜儀53
第六節同步輻射X射線熒光光譜儀55
第七節聚束毛細管透鏡微束XRF光譜儀56
參考文獻57
第六章定性與定量分析方法58
第一節定性分析58
第二節定量分析59
一、獲取譜峰凈強度60
二、干擾校正60
三、濃度計算61
第三節數學校正法62
第四節實驗校正方法62
一、標準化62
二、內標法63
三、標準添加法64
四、散射線內標法64
第五節實驗校正實例——散射線校正方法64
一、散射效應與利用64
二、濾光片對Compton峰和分析譜線的影響65
三、準直器直徑對譜線的影響67
四、Compton峰位隨濾光片材料的原子序數增加而產生漂移68
參考文獻69
第七章基本校正71
第一節基本參數法72
一、理論熒光強度72
二、相關基本參數計算75
三、基本參數法76
第二節理論校正系數77
一、基本影響系數77
二、理論校正系數81
三、系數變換84
參考文獻85
第八章分析誤差和統計不確定87
第一節分析誤差和分布函數87
一、分析誤差87
二、分布函數88
第二節計數統計學88
第三節靈敏度、檢出限及XRF中的誤差來源89
一、靈敏度和檢出限89
二、XRF中的誤差來源90
第四節不確定度及不確定度計算90
一、測量不確定度90
二、統計不確定度91
三、誤差傳遞與不確定度91
四、不確定度計算式92
五、平均值的不確定度
本書分十二章介紹了X射線熒光光譜分析的原理，儀器主要部件，定性與定量分析方法，基體校正與數據處理方法，樣品制備技術，具有共性的儀器校正方法、日常維護知識和故障判斷原則等。內容豐富、新穎、翔實，在探測器技術、基體校正、樣品制備、儀器維護等章節具有特色。
本書可供X射線熒光光譜分析工作者學習參考，同時也可作為高等學校與儀器分析相關專業師生的參考書。
