電工電子產(chǎn)品高低溫環(huán)境試驗的檢測：

高低溫試驗箱是對電子產(chǎn)品做測試,依據(jù)電子產(chǎn)品本身國家標準要求或用戶自定要求，電子產(chǎn)品在低溫、高溫、條件下，其物理以及其他相關(guān)特性進行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷電子產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計、改進、鑒定及出廠檢驗用。

滿足標準：

性能指標符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗設(shè)備》的要求電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A：低溫試驗方法GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)
♦電工電子產(chǎn)品基本環(huán)試驗規(guī)程試驗B：高溫試驗方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)
♦電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ca：恒定濕熱試驗方法GB/T 2423.3-93（IEC68-2-3）
♦電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Da：交變濕熱試驗方法GB/T423.4-93(IEC68-2-30)
♦GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法
♦GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法
♦GJB4.5-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗恒定濕熱試驗》
♦GJB4.6-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗交變濕熱試驗》
♦GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗
♦GB/T5170.2-96《溫度試驗設(shè)備》
♦GB/T5170.5-96《濕熱試驗設(shè)備》
♦GB10592-93《高、低溫試驗箱技術(shù)條件》
♦GB10586-93《濕熱試驗箱技術(shù)條件》