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2017
03-06費(fèi)思泰克推出FT6400A系列可編程直流電子負(fù)載2
費(fèi)思FT6400A系列中功率直流電子負(fù)載FT6400采用模塊化設(shè)計(jì),功能豐富,適應(yīng)性強(qiáng)(抗自激能力強(qiáng)),具有高可靠性與高可維護(hù)性的特點(diǎn)。主要應(yīng)用于:動(dòng)力電池,中大功率直流電源,直流發(fā)電機(jī)等電力電子測(cè)試領(lǐng)域。FT6400既包含CC、CV、CR和CP等基本的測(cè)試模式,也提供動(dòng)態(tài)測(cè)試與序列測(cè)試以模擬各種動(dòng)態(tài)負(fù)載的變化,瞬態(tài)頻率可達(dá)20KHz。用戶(hù)還可以通過(guò)按鍵進(jìn)行模擬短路操作。FT6400具備電池容量測(cè)試,(動(dòng)力電池或超級(jí)電容)內(nèi)阻測(cè)試功能。這使其在電池及超級(jí)電容測(cè)試領(lǐng)域有著*優(yōu)勢(shì)。FT6400接口豐2017
03-062017
03-042017
03-032017
03-032017
02-202016
12-13紅外熱成像技術(shù)在太陽(yáng)能電池行業(yè)的應(yīng)用
在太陽(yáng)能電池板的研發(fā)、制造生產(chǎn)的過(guò)程中不可避免會(huì)產(chǎn)生諸如組件斷柵、裂紋、缺焊、單片效率不均勻和反向漏電等缺陷,如何更好地提高太陽(yáng)能電池板的熱轉(zhuǎn)換效率,進(jìn)一步提高產(chǎn)品的合格率成為當(dāng)前太陽(yáng)能行業(yè)亟待解決的問(wèn)題,紅外非接觸檢測(cè)技術(shù)很好地解決了這些問(wèn)題。薄膜太陽(yáng)能電池板常見(jiàn)的太陽(yáng)能電池的分類(lèi)晶硅太陽(yáng)能電池板紅外熱成像診斷技術(shù)的優(yōu)勢(shì)紅外非接觸檢測(cè)技術(shù)是指運(yùn)用紅外熱成像儀對(duì)太陽(yáng)能電池表面或背面進(jìn)行掃描,具有非接觸、掃描速度快等優(yōu)點(diǎn),適合太陽(yáng)能電池板的研發(fā)、生產(chǎn)、檢測(cè)等環(huán)節(jié)。檢測(cè)速度快、準(zhǔn)確快速定位故障缺陷點(diǎn)2016
12-12太陽(yáng)能行業(yè)熱缺陷檢測(cè)及維護(hù)怎么使用熱像儀
隨著經(jīng)濟(jì)的發(fā)展,礦產(chǎn)資源不斷減少,因此尋找新的能源改善現(xiàn)狀迫在眉睫。而太陽(yáng)能無(wú)異是zui豐富zui易開(kāi)發(fā)利用的自然資源,太陽(yáng)能熱水器已被廣泛應(yīng)用,而近幾年來(lái)太陽(yáng)能行業(yè)迅速發(fā)展,處于研發(fā)及應(yīng)用的高速發(fā)展時(shí)期。但太陽(yáng)能發(fā)電存在生產(chǎn)成本高,生產(chǎn)工藝復(fù)雜等干擾因素導(dǎo)致太陽(yáng)能發(fā)電存在轉(zhuǎn)換率低的狀況,為提升發(fā)電效率,太陽(yáng)能研發(fā)人員從技術(shù)上不斷突破,操作人員從運(yùn)行上進(jìn)行維護(hù)及檢測(cè),以?xún)?yōu)化系統(tǒng)運(yùn)行。現(xiàn)在,我們就針對(duì)太陽(yáng)能電池組件及光電單元在運(yùn)行中存在的問(wèn)題給出紅外檢測(cè)解決方案。測(cè)量依據(jù):“一般物體產(chǎn)生缺陷時(shí)都會(huì)2016
12-09福祿克進(jìn)入640像素 發(fā)布TiX580和Ti480紅外熱像儀
福祿克公司(FlukeCorp)推出Fluke®Ti480和TiX580紅外熱像儀,產(chǎn)品擁有640x480分辨率,并可分別通過(guò)超像素和精密位移成像技術(shù),實(shí)現(xiàn)4倍像素提升至1280x960分辨率,生成令人驚嘆的超高清紅外圖像,為工業(yè)、過(guò)程、科研、公共設(shè)施維護(hù)和建筑檢查領(lǐng)域的專(zhuān)家提供快速發(fā)現(xiàn)問(wèn)題和分析研究所*的保障。擁有性能和功能的同時(shí),全新的TiX580和Ti480更具有難以置信的性?xún)r(jià)比,宣告640像素時(shí)代的到來(lái),是時(shí)候升級(jí)你的熱像儀了!對(duì)于Ti480紅外熱像儀,福祿克將640x480分辨率集成到2016
12-08新一代美國(guó)泰克高速串行數(shù)據(jù)測(cè)試解決方案
在嵌入式系統(tǒng)的設(shè)計(jì)中,通信接口測(cè)試是十分關(guān)鍵的一環(huán)。目前PCIExpress、SATA、HDMI、SAS、以太網(wǎng)、USB等接口是較為常用的通信技術(shù),工程師需要確認(rèn)高速串行總線(xiàn)能夠正確傳送數(shù)據(jù),同時(shí)串行傳輸問(wèn)題也不會(huì)給其他系統(tǒng)元件帶來(lái)不利影響,一套的實(shí)用的測(cè)試設(shè)備和完整的測(cè)試方案是*的。隨著人們對(duì)信息需求的不斷提高,高速串行傳輸憑借傳輸高的特性越來(lái)越受到市場(chǎng)的青睞,串行總線(xiàn)的傳輸速率也已經(jīng)達(dá)到甚至超過(guò)了5Gbit/s。串行數(shù)據(jù)與內(nèi)存標(biāo)準(zhǔn)變得越來(lái)越快和更加復(fù)雜,設(shè)計(jì)人員需要新的更強(qiáng)大和靈活的工具來(lái)準(zhǔn)2016
12-072016
11-252016
10-26為什么要用HIOKI(日置)PQ3100電能質(zhì)量分析儀
電能質(zhì)量測(cè)量的必要性由于電力電子設(shè)備的增加以及多樣化,因?yàn)橥k妼?dǎo)致的電子設(shè)備的誤操作或故障等損害問(wèn)題也隨之增加。為了有效的防止這類(lèi)損害發(fā)生,需要詳細(xì)了解損害產(chǎn)生的原因。但是,調(diào)查項(xiàng)目眾多,對(duì)專(zhuān)業(yè)知識(shí)要求很高,所以事項(xiàng)特別花費(fèi)時(shí)間的工作。通過(guò)使用電能質(zhì)量分析儀,能夠正確且快速的發(fā)現(xiàn)損害產(chǎn)生的原因。在可再生能源普及的形勢(shì)下,對(duì)直流的電能質(zhì)量進(jìn)行監(jiān)測(cè)。HIOKI這次發(fā)售了電能質(zhì)量分析儀PQ3100。現(xiàn)在,對(duì)于由于停電導(dǎo)致的電子設(shè)備的誤操作或故障等損害,為了查明其原因會(huì)進(jìn)行電能質(zhì)量的監(jiān)測(cè)。這時(shí)就需要用到2016
09-212016
09-21射頻同軸電纜測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)之一GB/T17738
射頻同軸電纜測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)之一GB/T17738《射頻同軸電纜組件》GB/T17738《射頻同軸電纜組件》分為以下幾個(gè)部分:———第1部分:總規(guī)范一般要求和試驗(yàn)方法;———第2部分:柔軟同軸電纜組件分規(guī)范;———第3部分:半柔同軸電纜組件分規(guī)范;———第4部分:半硬同軸電纜組件分規(guī)范;前言Ⅲ1范圍12規(guī)范性引用文件13術(shù)語(yǔ)和定義24設(shè)計(jì)和制造要求34.1電纜設(shè)計(jì)和結(jié)構(gòu)34.2連接器的設(shè)計(jì)和結(jié)構(gòu)34.3外形和界面尺寸45加工質(zhì)量、標(biāo)志和包裝45.1加工質(zhì)量45.2標(biāo)志45.3蓋帽45.4包裝和標(biāo)志46質(zhì)2016
09-202016
09-202016
09-192016
09-13同惠TH2512直流低電阻測(cè)試儀測(cè)試中應(yīng)注意的問(wèn)題
1.開(kāi)機(jī)預(yù)熱:儀器開(kāi)機(jī),測(cè)試前必須預(yù)熱10分鐘以上,以等待儀器內(nèi)部線(xiàn)路電參數(shù)穩(wěn)定后再進(jìn)行測(cè)試。2.零點(diǎn)及清零:當(dāng)使用20mΩ和200mΩ兩量程時(shí),應(yīng)首先清零再進(jìn)行測(cè)試,而在其它量程一般不必清零。測(cè)試時(shí),使用者可先選定量程,再把測(cè)試夾互夾,使S+端與S-端直接接觸,D+端與D-端直接接觸,并保持良好接觸,若儀器顯示不為零時(shí),請(qǐng)按前面板清零鍵,則清零ON指示燈亮,儀器清零。由于儀器采用了四端測(cè)量法,所以使用者在清零時(shí),一定要使儀器的S+端與S-端直接接觸,D+端與D-端直接接觸。具體地說(shuō):使兩個(gè)測(cè)試2016
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