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2025
07-03光學(xué)膜厚儀在光伏鈣鈦礦涂層中的動態(tài)測量技巧
鈣鈦礦太陽能電池因光電轉(zhuǎn)換效率高、制備成本低,成為光伏領(lǐng)域的研究熱點。然而,其產(chǎn)業(yè)化進(jìn)程受限于薄膜質(zhì)量的一致性,尤其是鈣鈦礦涂層的厚度均勻性直接影響器件性能(如光電轉(zhuǎn)換效率、穩(wěn)定性)。光學(xué)膜厚儀憑借其非接觸、快速、高精度的優(yōu)勢,成為動態(tài)監(jiān)測鈣鈦礦薄膜厚度的核心工具。本文從實驗室研發(fā)到生產(chǎn)線應(yīng)用,系統(tǒng)梳理動態(tài)測量技巧,助力鈣鈦礦光伏商業(yè)化。一、實驗室階段:動態(tài)測量的核心目標(biāo)與技巧實驗室階段需聚焦鈣鈦礦薄膜的結(jié)晶動力學(xué)研究與工藝參數(shù)優(yōu)化,動態(tài)測量需滿足以下需求:實時監(jiān)測結(jié)晶過程技術(shù)原理:利用光學(xué)干涉2025
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01-175G時代重要的半導(dǎo)體材料:碳化硅(SiC)的膜厚測量
作者:KevinHu,優(yōu)尼康科技有限公司技術(shù)工程師隨著5G大潮的到來,新一代的移動通信產(chǎn)品大多具備高功率,耐高溫等特性,傳統(tǒng)原料中的硅(Si)無法克服在高溫、高壓、高頻中的損耗,逐漸被淘汰,跟不上時代的發(fā)展,無法滿足現(xiàn)代工藝的要求,這就使得碳化硅(SiC)新工藝在半導(dǎo)體行業(yè)嶄露頭角。目前SiC產(chǎn)品格局還處于三足鼎立的狀態(tài),美國、歐洲、日本占據(jù)產(chǎn)值的八成,其中又以美國獨大,中國雖以即將進(jìn)入5G時代,但是半導(dǎo)體在SiC方面仍屬于發(fā)展初期,目前在基底、磊晶和零組件方面均有布局。為了把控和檢測產(chǎn)品工藝,2020
01-092020
01-032019
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12-06光學(xué)膜厚儀的優(yōu)勢特點及使用時應(yīng)該注意的事項
膜厚儀作為一種測量膜層厚度的儀器,在很多的行業(yè)領(lǐng)域都得到了廣泛的應(yīng)用,尤其是光學(xué)膜厚儀,因為測量精度高、非接觸方、無須破壞樣品等優(yōu)點,受到眾多企業(yè)用戶和高校老師的喜愛,今天主要對光學(xué)膜厚儀做個簡單了解。光學(xué)膜厚儀的優(yōu)點1.非接觸式測量光學(xué)膜厚儀采用的原理是通過光的反射原理對膜層厚度進(jìn)行測量,屬于非接觸式測量方法,不會對樣品造成任何損傷,能夠樣品的完整性。2.測量數(shù)據(jù)多樣可以測得物體的膜厚度和n,k數(shù)據(jù),這是其它類型的膜厚儀所不具備的特點。3.測量快速光學(xué)膜厚儀的測量過程非常快速,因為該設(shè)備采用了2019
11-192019
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