當(dāng)前位置：束蘊(yùn)儀器（上海）有限公司>>技術(shù)文章展示
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2025
03-04MDP 技術(shù)-硅錠質(zhì)量評(píng)估的 “透視眼”
MDP技術(shù)-硅錠質(zhì)量評(píng)估的“透視眼”在光伏生產(chǎn)鏈中，硅錠材料質(zhì)量評(píng)估對(duì)晶體生長者優(yōu)化結(jié)晶過程、電池、芯片制造商篩選材料以降本增效極為重要。傳統(tǒng)依賴最終效率的反饋方式存在諸多不足，MDP技術(shù)則為早期質(zhì)量評(píng)估提供了新途徑。FreibergInstruments相關(guān)技術(shù)或設(shè)備助力實(shí)現(xiàn)用MDP技術(shù)在硅磚四個(gè)側(cè)面以1mm分辨率測量空間壽命和電阻率圖像。這種測量具有非接觸、可在線操作且無需校準(zhǔn)的優(yōu)勢。MDP技術(shù)能夠?qū)уV的空間分辨載流子壽命和電阻率進(jìn)行測量，其測量過程為非接觸式，可在生產(chǎn)線上實(shí)時(shí)操作，且無需2025
02-26應(yīng)用分享 | 評(píng)估紫光受激發(fā)光方案的測年潛力(Lexsyg釋光探測器)
lexsyg釋光探測器||在地質(zhì)測年領(lǐng)域應(yīng)用分享突破測年極限！紫光激發(fā)發(fā)光技術(shù)新進(jìn)展，lexsyg系統(tǒng)助力古老沉積物測年研究這篇由牛津大學(xué)與伍倫貢大學(xué)聯(lián)合團(tuán)隊(duì)發(fā)表的研究，為石英測年技術(shù)帶來了重要突破。團(tuán)隊(duì)使用德國FreibergInstruments的lexsygresearchsystem高精度發(fā)光測量系統(tǒng)，對(duì)紫色受激發(fā)光（VSL）測年法展開系統(tǒng)性驗(yàn)證，揭示了該技術(shù)在突破傳統(tǒng)測年上限中的潛力與挑戰(zhàn)。創(chuàng)新實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)研究選取歐洲4處考古遺址樣本（年代跨度40-900ka），通過對(duì)比單份樣再生劑量（S2025
02-26應(yīng)用分享 | SkyScan2214助力揭秘甲磺酸多沙唑嗪緩釋片釋放機(jī)制（XRM）
由來自國家食品藥品監(jiān)督管理局相關(guān)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室、中國藥科大學(xué)、中國科學(xué)院上海藥物研究所等機(jī)構(gòu)的眾多科研人員組成的團(tuán)隊(duì)，結(jié)合體外溶出實(shí)驗(yàn)與三維X射線斷層掃描結(jié)構(gòu)表征的研究方法，開展了甲磺酸多沙唑嗪緩釋片相關(guān)研究。文章中，研究人員運(yùn)用Bruker納米級(jí)三維X射線顯微鏡（NanoCT）SkyScan2214剖析了藥物結(jié)構(gòu)與釋放動(dòng)力學(xué)關(guān)系，為口服控釋仿制藥研發(fā)和質(zhì)量控制提供了重要依據(jù)。該文章于2024年9月21日成功發(fā)表于AsianJournalofPharmaceuticalSciences（影響因子102025
02-19應(yīng)用分享｜深能級(jí)缺陷表征- MDPICTS
在半導(dǎo)體材料的研究與應(yīng)用中，缺陷表征至關(guān)重要。特別是在中子嬗變摻雜（NTD）硅的處理過程中，了解其輻射誘導(dǎo)缺陷對(duì)于優(yōu)化退火條件、提升材料性能意義非凡。FreibergInstruments公司的微波探測光致電流瞬態(tài)光譜法（MDPICTS）技術(shù)（如圖1），為這一領(lǐng)域帶來了新的突破，展現(xiàn)出諸多傳統(tǒng)技術(shù)難以企及的優(yōu)點(diǎn)。NTD硅，因能實(shí)現(xiàn)極低的電阻率變化，在大面積輻射探測器制造中占據(jù)重要地位。然而，摻雜后的硅晶體因輻射產(chǎn)生大量缺陷，實(shí)際電阻率遠(yuǎn)超預(yù)期，退火成為必要環(huán)節(jié)。在此過程中，準(zhǔn)確把握晶體損傷程度成2025
02-19全新臺(tái)式 D6 PHASER應(yīng)用報(bào)告系列（九）—對(duì)分布函數(shù)（PDF）分析XRD
對(duì)分布函數(shù)（PairDistributionFunction,PDF）分析是一種描述材料中原子之間距離分布的方法，它可以給出原子間距離分布或者相距r的原子對(duì)的“概率”。對(duì)于長程有序的結(jié)晶材料，根據(jù)布拉格衍射幾何，可以很容易得到材料對(duì)應(yīng)的晶體結(jié)構(gòu)信息，而對(duì)于短程有序或者無序的材料，比如非晶、液體等，布拉格衍射給出的信息非常有限（往往是很寬的漫散峰，甚至沒有峰），這時(shí)借助PDF分析可以得到更多的細(xì)節(jié)信息。傳統(tǒng)上，PDF測試只能在大型落地式衍射儀上進(jìn)行，臺(tái)式衍射儀通常用于簡單的測試項(xiàng)目，比如物相分析。2025
02-18電子順磁共振波譜儀的養(yǎng)護(hù)細(xì)節(jié)
電子順磁共振波譜儀的養(yǎng)護(hù)細(xì)節(jié)涉及環(huán)境條件、電源管理、定期檢查與維護(hù)、樣品處理與存放以及軟件維護(hù)等多個(gè)方面。只有做好這些養(yǎng)護(hù)工作，才能確保儀器的正常運(yùn)行和延長使用壽命。以下是電子順磁共振波譜儀的養(yǎng)護(hù)細(xì)節(jié)：1.環(huán)境條件-溫度與濕度：儀器應(yīng)放置在溫度、濕度相對(duì)穩(wěn)定的環(huán)境中，一般溫度保持在15℃-30℃，相對(duì)濕度在20%-80%為宜。避免將儀器放置在潮濕、高溫或陽光直射的地方，以免影響儀器的性能和壽命。例如，在潮濕的環(huán)境中，儀器內(nèi)部的電子元件可能會(huì)受潮生銹，導(dǎo)致電路故障；而高溫環(huán)境可能會(huì)使儀器的部件老化2025
01-162025
01-142025
01-132024
12-25全新臺(tái)式D6 PHASER應(yīng)用報(bào)告系列(八)——非室溫XRD
D6PHASER作為市面上功能強(qiáng)大的臺(tái)式X射線衍射儀之一，擁有高達(dá)1200W的光管功率和緊湊的測角儀半徑，是分析小體積樣品的選擇。非環(huán)境X射線粉末衍射（XRPD）可以方便地集成到D6PHASER臺(tái)式衍射儀中。AntonPaar的緊湊型BTS150/500加熱臺(tái)（圖1）可以裝載在D6PHASER內(nèi)。用戶能夠針對(duì)樣品進(jìn)行原位變溫物相表征，BTS150加熱臺(tái)的測量溫度區(qū)間為-10~150℃，而BTS500加熱臺(tái)則可以從室溫加熱到500℃。D6PHASER的專有中心臺(tái)架保證從其他樣品臺(tái)替換為加熱臺(tái)后，全2024
12-25應(yīng)用分享 | 布魯克三維X射線顯微鏡SkyScan1273檢測漏液5號(hào)標(biāo)準(zhǔn)堿性電池
在現(xiàn)代電子設(shè)備中，5號(hào)（AA）電池是比較常見的電池類型之一。它廣泛應(yīng)用于各種家用電器、玩具、遙控器以及其他便攜設(shè)備中。了解電池的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和工作狀態(tài)對(duì)于提高電池的性能和安全性具有重要意義。布魯克三維X射線顯微鏡SkyScan1273作為一種高分辨率的無損檢測工具，能夠深入揭示電池內(nèi)部的微觀結(jié)構(gòu)和潛在缺陷。為了能夠使得檢測結(jié)果更具代表性，本文將詳細(xì)介紹應(yīng)用SkyScan1273表征漏液的標(biāo)準(zhǔn)5號(hào)堿電池內(nèi)部結(jié)構(gòu)的實(shí)驗(yàn)結(jié)果。實(shí)驗(yàn)方法1.儀器簡介布魯克SkyScan1273是一款先進(jìn)的桌面型三維X射線顯微2024
12-18應(yīng)用分享 I 資源所發(fā)現(xiàn)新礦物“白鴿礦”-XPS
一、引言新礦物研究，是地球科學(xué)領(lǐng)域重要的基礎(chǔ)性研究工作。新礦物的發(fā)現(xiàn)不僅可以增加自然界的礦物種類，同時(shí)也可以為人類認(rèn)識(shí)和利用自然界礦物提供新的參考。截至2022年3月，全球已累計(jì)發(fā)現(xiàn)新礦物5794種。新礦物的發(fā)現(xiàn)數(shù)量、研究深度及分析技術(shù)水平展現(xiàn)了一個(gè)國家基礎(chǔ)科技的軟實(shí)力與硬實(shí)力，是國家綜合實(shí)力的體現(xiàn)。近年來，我國加大了對(duì)新礦物研究的支持力度，我國新礦物事業(yè)迎來了難得的發(fā)展契機(jī)。中國地質(zhì)調(diào)查局礦產(chǎn)資源研究所李以科研究團(tuán)隊(duì)長期致力于戰(zhàn)略性關(guān)鍵礦產(chǎn)成礦作用與資源評(píng)價(jià)研究工作。二、成果介紹12月2日，由2024
12-182024
12-18應(yīng)用分享 I 微區(qū) XPS 在摩擦學(xué)研究與抗磨材料開發(fā)中的應(yīng)用
摩擦副之間的相對(duì)運(yùn)動(dòng)必然會(huì)產(chǎn)生摩擦和磨損，全球約80%的機(jī)械零件失效都是由摩擦磨損造成的。此外，地球上每年近三分之一的一次能源消耗被用來克服各種系統(tǒng)和設(shè)備的摩擦，這不僅造成了大量的能量損失，而且限制了能源效率的優(yōu)化。因此，系統(tǒng)深入地研究材料摩擦過程中在表面、界面所發(fā)生的化學(xué)反應(yīng)，從微觀或分子、原子水平上認(rèn)識(shí)材料有效和失效的機(jī)理，繼而指導(dǎo)設(shè)計(jì)制備具有優(yōu)異摩擦學(xué)特性的材料，對(duì)于節(jié)約能源、提高機(jī)械裝置使用壽命以及減少環(huán)境污染具有重要意義。XPS作為表面化學(xué)分析有效的技術(shù)之一，在摩擦學(xué)領(lǐng)域應(yīng)用普遍。然而2024
12-162024
12-13超越光學(xué)顯微鏡：X射線顯微成像系統(tǒng)的獨(dú)特優(yōu)勢與挑戰(zhàn)
在科學(xué)探索的征程中，X射線顯微成像系統(tǒng)宛如一把神奇的鑰匙，開啟了微觀世界的大門，讓我們得以一窺物質(zhì)內(nèi)部的奧秘。顯微成像系統(tǒng)基于X射線與物質(zhì)的相互作用。X射線具有高能量、短波長的特性，當(dāng)它穿透樣品時(shí)，會(huì)因樣品內(nèi)部不同結(jié)構(gòu)對(duì)X射線吸收、散射等程度的差異而產(chǎn)生不同的信號(hào)。這些信號(hào)被探測器接收并轉(zhuǎn)化為圖像信息，從而呈現(xiàn)出樣品內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)的清晰圖像。X射線顯微成像系統(tǒng)在眾多領(lǐng)域發(fā)揮著不可替代的作用。在材料科學(xué)領(lǐng)域，它能夠深入材料內(nèi)部，觀察材料的微觀結(jié)構(gòu)缺陷、晶體結(jié)構(gòu)等。例如，在研究新型合金材料時(shí)，可以通過2024
12-04應(yīng)用分享｜關(guān)于鈣鈦礦電池中PID測試的新研究
應(yīng)用背景該文章翻譯于FraunhoferCSP和DiagnosticsａndMetrologySolarCellsdivision等機(jī)構(gòu)共同研究的工作。電勢誘導(dǎo)衰減（PID效應(yīng)）普遍存在于晶體硅太陽能電池中，通常是由鈉離子產(chǎn)生分流效應(yīng)引起的，傳統(tǒng)太陽能電池已經(jīng)開發(fā)出標(biāo)準(zhǔn)的PID測試條件。利用FreiburgInstruments開發(fā)的PIDcon設(shè)備，我們研究了標(biāo)準(zhǔn)化PID測試程序是否適用于各種結(jié)構(gòu)和成分的鈣鈦礦太陽能電池，結(jié)果發(fā)現(xiàn)盡管鈣鈦礦材料與硅基電池結(jié)構(gòu)有明顯差異，但PID測試結(jié)果顯示了它2024
11-27XRM應(yīng)用分享 | Skyscan 2214與MTS： 揭秘樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)與力學(xué)行為的黃金搭檔
在工程力學(xué)和材料科學(xué)領(lǐng)域，對(duì)材料的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和力學(xué)行為的深入研究至關(guān)重要。這不僅關(guān)系到材料的應(yīng)用性能，還直接影響到工程安全和效率。目前，我們要介紹的是Skyscan2214和MTS（材料力學(xué)試驗(yàn)機(jī)）這一對(duì)在力學(xué)研究中不能缺少的黃金搭檔。Skyscan2214：高分辨率X射線成像系統(tǒng)Skyscan2214是由Bruker公司生產(chǎn)的高分辨率X射線成像系統(tǒng)，它在材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)研究中扮演著重要角色。以下是Skyscan2214的一些關(guān)鍵特性和應(yīng)用：1.高分辨率成像能力Skyscan2214擁有高達(dá)160kV2024
11-20全新臺(tái)式D6 PHASER應(yīng)用報(bào)告系列（七）— 掠入射衍射- X射線衍射XRD
掠入射衍射介紹掠入射衍射（GID,Grazingincidencediffraction）是研究多晶薄膜的一種常用方法。薄膜樣品在Bragg-Brentano對(duì)稱衍射中通常表現(xiàn)出非常微弱的衍射信號(hào)，原因在于X射線可穿透薄膜照射到底層襯底，由于襯底其較大的散射體積，導(dǎo)致其衍射信號(hào)在終端信號(hào)中占據(jù)主導(dǎo)地位。然而，如果不是BB幾何的發(fā)散光路，而是一束細(xì)的平行光束照向樣品表面，這樣它只穿透薄膜而不穿透下方的襯底材料，那么來自薄膜的衍射信號(hào)則會(huì)成為主導(dǎo)。通過優(yōu)化平行光束的入射角度，可以將薄膜層的散射信號(hào)與2024
11-20如何確保晶圓片在線面掃檢測儀的數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性？
在現(xiàn)代半導(dǎo)體制造業(yè)中，對(duì)晶圓片表面質(zhì)量的精確檢測是至關(guān)重要的。晶圓片在線面掃檢測儀作為一種先進(jìn)的檢測設(shè)備，因其能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)控晶圓片表面的微小缺陷，被廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體生產(chǎn)線上。晶圓片在線面掃檢測儀的設(shè)計(jì)充分考慮了高效檢測的需求。它通常由一個(gè)高速掃描系統(tǒng)和一個(gè)高分辨率成像系統(tǒng)組成，能夠在晶圓片傳輸過程中實(shí)時(shí)捕捉表面圖像，并通過圖像處理算法自動(dòng)識(shí)別和分類各種缺陷。這種設(shè)計(jì)不僅能夠提高生產(chǎn)效率，還能夠顯著降低因缺陷導(dǎo)致的產(chǎn)品報(bào)廢率。晶圓片在線面掃檢測儀還具備多種高級(jí)功能，以滿足不同的應(yīng)用需求。例如，一些型掃一掃訪問手機(jī)商鋪
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