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X射線粉末衍射儀主要應用于哪些領域？2024/08/31

X射線粉末衍射儀利用具有一定發散度的特征X光束照射多晶平板樣品。當X射線入射到晶體時，會在晶體中產生周期性變化的電磁場，引起原子中的電子振動。基于晶體結構的周期性，晶體中各個電子的散射波會相互干涉、相互疊加，形成衍射。散射波周相一致并相互加強的方向被稱為衍射方向，這些方向上的衍射線會被檢測并記錄下來。通過分析這些衍射線的強度和位置，可以推斷出晶體的結構信息。主要由以下四大部分組成：1.X射線發生器：產生X射線束，作為入射光源。2.測角儀：用于精確控制樣品和探測器之間的角度，確保衍射線的準確測量。

巖礦分析系統為地質勘探提供了科學依據2024/08/27

巖礦分析系統是一種用于地質樣品元素含量、元素形態和同位素比值分析的技術手段，它對于地球科學研究、礦產資源評估和環境監測具有重要意義，優勢特點體現在多個方面，這些特點不僅提高了分析的效率和準確性，而且拓寬了地質科學研究和應用的領域。1.快速高效-自動化程度高：通常具有高度自動化的特點，能夠在一套軟件上完成所有操作，大大提高了測量效率。-多元素同時分析：能夠實現高精度、高準確度的多元素(包括同位素)同時分析，這在傳統方法中是難以達到的。2.準確性和準確度-低檢出限：能夠達到超低的檢出限，這意味著即使

巖礦分析系統的關鍵知識點講解2024/08/20

巖礦分析是對巖石、礦物等天然或人工材料進行化學成分和結構特征的系統鑒定過程，它是地質科學、環境科學以及材料科學中不可少的技術。巖礦分析系統的關鍵知識點：1.分析原理與技術-基本原理：巖礦分析基于物質的物理和化學性質，諸如密度、磁性、電性、光學特性以及化學反應特性等來進行。這些性質能夠幫助科學家識別并定量巖石和礦物中的組分。-分析方法：常用的巖礦分析方法包括X射線衍射(XRD)、X射線熒光光譜(XRF)、原子吸收光譜(AAS)、質譜分析(MS)等，這些技術能夠對巖石和礦物進行準確的化學成分和結構分

原子力顯微鏡AFM：解鎖納米科技的無限可能2024/07/31

原子力顯微鏡(AtomicForceMicroscopy，AFM)是一種具有原子級別高分辨率的新型表面分析儀器，它不但能像掃描隧道顯微鏡(STM)那樣觀察導體和半導體材料的表面現象，而且能用來觀察諸如玻璃、陶瓷等非導體表面的微觀結構，還可以在氣體、水和油中無損傷地直接觀察物體，大大地拓展了顯微技術在生命科學、物理、化學、材料科學和表面科學等領域中的應用。AFM主要由掃描隧道顯微鏡(STM)發展而來，其基本原理相似。AFM通過一個微小的針尖與樣品表面相互作用，以實現高分辨率的表面成像。針尖與樣品之

光電探測器的核心參數介紹2024/06/14

光電探測器的原理是由輻射引起被照射材料電導率發生改變，在各個領域有廣泛用途。光電探測器的核心參數主要有工作波長、帶寬、上升時間和響應度，它們是評估光電探測器性能的關鍵指標，也是光電探測器選型的重要依據。在選擇光電探測器時，需要根據具體應用需求來平衡這些指標，以獲得良好的檢測性能。1、工作波長光電探測器的工作波長是指其可以感測到的光信號的波長范圍，通常與探測器的材料有關。基于光電探測器的工作原理，當入射光的能量(hv)大于材料的禁帶寬度時，價帶的電子才可以躍遷到導帶形成光電流，從而有效響應。2、帶

Fossil全自動煤巖分析系統的測量區域選擇2024/05/23

煤巖分析(petrographicanalysisofcoal)是指以光學顯微鏡為主要主具兼用肉眼和其他手段，對煤的巖石組成、結構、性質、煤化度作定性描述和定量測定的方法。是研究煤帶學的重要手段。最常規的分析項目是煤巖顯微組分和礦物質的測定、鏡質組反射率測定、顯微煤巖類型測定和宏觀描述。全自動煤巖分析系統是一種用于冶金工程技術領域的分析儀器，用于巖礦、石油顯微組織的觀察與分析。Fossil全自動煤巖分析系統是一種測試鏡質體反射率和煤品分析系統。該系統自動化程度高，所有操作可在一套軟件上完成，測量

鎢燈絲掃描電鏡的原理和使用的一些注意事項2024/04/22

鎢燈絲掃描電鏡是一款高性能、應用廣泛的通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡。它的總發射電流和束斑都較大，抗干擾能力和穩定性都較好，低真空下可以對不導電樣品無荷電成像，可用于形貌觀察、顯微結構分析、斷口形貌分析，在材料、地質、礦產、冶金、機械、化學、化工、物理、電子、生物、醫學等領域都有廣泛的用途。工作原理：通過對電子槍內的鎢燈絲加高電壓，使電子槍處于熱激發狀態，在陽極作用下，處于熱激發的電子槍就可以激發出電子束。經過掃描線圈磁場的控制，電子束在樣品表面逐點掃描，激發出二次電子、背散射電子等物理信號，經探測

原子力顯微鏡具有哪些優勢特點？2024/03/21

原子力顯微鏡是一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。它通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質的表面結構及性質。將一對微弱力非常敏感的微懸臂一端固定，另一端的微小針尖接近樣品，這時它將與其相互作用，作用力將使得微懸臂發生形變或運動狀態發生變化。掃描樣品時，利用傳感器檢測這些變化，就可獲得作用力分布信息，從而以納米級分辨率獲得表面形貌結構信息及表面粗糙度信息。原子力顯微鏡具有哪些優勢特點？1.高分辨力能力遠遠超過掃描電子顯微鏡（SEM），

Fossil全自動煤巖分析系統的主要特點2024/03/07

煤巖分析系統用于煤炭質量檢測、評價和研究（主要測定煤的鏡質組反射率，及反射率分布，鑒別單混煤，混合類型煤的鏡質組絲質組和微惰性煤各部分所占的比例指導配煤，煤巖技術參數，焦炭顯微結構、焦炭氣孔結構的參數）。Fossil全自動煤巖分析系統是一種測試鏡質體反射率和煤品分析系統。該系統自動化程度高，所有操作可在一套軟件上完成，測量方式可滿足國家標準；只需一次定標，就可測算出視野范圍內任意位置的鏡質體反射率，提高了測量效率。主要特點：測量快速，自動測量；自動測量，給出煤質分析數據；測量區域自由選擇；測量面

X射線粉末衍射儀的功能及其使用注意事項2024/01/30

每種晶體結構都有自己特殊的X射線衍射譜。衍射譜的特征可以用各個衍射晶面間距d和衍射線的相對強度來表征。X射線分析儀是根據晶體對X射線的衍射線的位置、強度及數量來鑒定晶體物相的分析儀器。X射線粉末衍射儀由X射線發生器、測角儀、X射線強度測量系統以及衍射儀控制與衍射數據采集、處理系統四大部分組成。主要功能：（1）判斷物質是否為晶體。（2）判斷是何種晶體物質。（3）判斷物質的晶型。（4）計算物質結構的應力。（5）定量計算混合物質的比例。（6）計算物質晶體結構數據。（7）和其他專業相結合會有更廣泛的用途

SEM掃描電鏡的維護保養措施2024/01/22

SEM掃描電鏡具有很高的分辨率和深度信息，可以觀察和分析樣品的微觀結構和表面形貌。它廣泛應用于材料科學、生物學、地質學、化學等領域。SEM在材料科學中用于研究材料的晶體結構、表面形貌和納米級結構；在生物學中用于觀察生物細胞、細菌、病毒等微觀結構；在地質學中用于分析巖石、礦物和土壤的組成和結構等。SEM掃描電鏡的應用：1.研究材料的表面形貌、晶粒結構、相互作用等，從而幫助了解材料的性質和應用潛力。2.觀察生物樣本的形態、細胞結構和生物組織的微觀形貌，對于生物學、醫學等領域的研究具有重要意義。3.研

SEM掃描電鏡使用時需要特別注意以下事項2024/01/15

SEM掃描電鏡(ScanningElectronMicroscope，SEM)利用電子束掃描樣品表面并獲得其形貌和成分信息的高分辨率成像技術。它以電子束作為探針來照射樣品，并根據樣品表面反射、散射和輻射出的電子信號來獲得顯微圖像。通常使用熱陰極或場發射陰極來產生電子束。這些電子經過電子透鏡系統的聚焦和加速，形成高能電子束。然后，電子束照射樣品表面。樣品通常涂有一層導電薄膜，如金屬薄膜，以提供導電性。當電子束照射樣品表面時，一部分電子被樣品原子的庫侖場散射，而另一部分電子可以穿透樣品表面進入深部。

太陽光模擬器的工作原理介紹2023/12/26

太陽光模擬器是利用人工光源在實驗室內模擬實現真實太陽光的光譜分布、輻照度等特性的實驗設備，廣泛應用于括材料科學、光電子學和太陽能等行業。模擬太陽光的意義在于能夠在實驗室或其他控制環境下重現太陽光的特性，從而進行各種科學研究和工程應用。太陽光模擬器常采用氙燈作為光源，使用濾光片、反射鏡和其它光學器件從而模擬出太陽光，以克服室外太陽光輻射受時間和氣候影響，且總輻照度不能調節等缺點。太陽光模擬器的工作原理主要是基于以下兩個方面：1.光源：該產品使用高亮度的光源產生類似太陽光的輻射。光源的常見類型有氙燈

鎢燈絲電鏡可通過顯像系統將信號轉化為圖像顯示出來2023/12/26

鎢燈絲電鏡的工作原理基于電子束與樣品之間的相互作用。當高能電子束與樣品表面相互作用時，發生多種物理和化學效應，如散射、輻射和吸收等。這些效應會產生不同的信號，如二次電子信號、反射電子信號、散射電子信號和X射線等。SEM在掃描樣品表面時，可以收集并檢測到這些信號，從而獲得樣品的形貌和成分信息。優點是可以獲得高分辨率的樣品形貌和成分信息，對樣品的觀察范圍廣泛，從納米尺度到毫米尺度都可以覆蓋。它還具有操作簡單、成像速度快、成本較低等優勢。具體來說，當電子束作用于樣品表面時，會激發出二次電子和反射電子。

鎢燈絲電鏡是用于生命科學領域的高分辨率顯微鏡2023/12/19

鎢燈絲電鏡(TungstenFilamentElectronMicroscope)，又稱為掃描電鏡(ScanningElectronMicroscope，SEM)，是應用于材料科學和生命科學領域的高分辨率顯微鏡。它利用高能電子束和樣品之間的相互作用，通過掃描樣品表面來獲取樣品的形貌和組成信息。基本構成包括電子源、透鏡系、樣品臺、檢測器、顯像系統等。電子源是SEM的核心部件，鎢燈絲作為電子源放電時會釋放出高能電子束。透鏡系用來聚焦和控制電子束，將其聚焦到樣品表面形成高分辨率圖像。樣品臺是用來支撐和

場發射電鏡是一種強大的顯微鏡技術2023/11/25

場發射電鏡(FieldEmissionElectronMicroscope，縮寫為FE-SEM)是一種強大的顯微鏡技術。它利用場發射電子源產生的高能電子束來進行樣品的高分辨率成像，能夠提供比傳統掃描電子顯微鏡更高的分辨率和更強的分析能力。場發射電鏡的使用步驟：1.準備樣品：選擇合適的樣品，并進行必要的預處理。例如，如果是固態材料，可能需要將樣品切割成適合放入電子顯微鏡的尺寸，然后進行打磨和拋光。2.安裝樣品：將樣品安裝到電子顯微鏡的樣品臺上。確保樣品穩定且位置正確，以確保獲得清晰的圖像。3.真空

高光譜成像技術具有廣泛的應用領域2023/11/20

高光譜成像技術是一種利用光譜信息進行成像的技術。不同于傳統的RGB三通道的彩色成像，HSI能夠獲取連續的、寬廣的光譜信息，為每個像素提供一個連續的光譜響應曲線。這種技術能夠提供遠超過人眼識別能力的光譜和空間信息，使我們能夠從不同的角度和深度分析目標物體。高光譜成像儀具有快速的數據采集和處理能力。高光譜相機采用連續掃描的方式獲取光譜數據，具有較快的數據采集速度。這對于無損檢測來說非常重要，特別是在實時監測和快速檢測的場景下。高光譜相機可以實時獲取大量的光譜數據，并通過快速的數據處理算法進行分析和判

場發射電子源是場發射電鏡的核心部件2023/11/17

場發射電子源是場發射電鏡的核心部件，它利用電場作用使電子從鎢或其他高電子親和力材料中釋放出來。場發射電子源具有較小的尺寸、高亮度和長壽命，能夠提供高束流密度的電子束。電子光學系統包括準直透鏡、電子源支架、電子束磁透鏡和檢測器等組成。通過精確控制透鏡的磁場分布，可以將電子束聚焦到納米尺度下，實現高分辨率成像。樣品臺是電鏡中支持和移動樣品的平臺。樣品臺通常具有高精度的運動系統，可以使樣品在多個軸向上進行精確的定位和旋轉，以獲得多角度、高分辨率的成像。場發射電鏡的應用：1.納米材料表征：能夠提供亞納米

光電探測器的應用領域有哪些？2023/10/29

光電探測器是將光輻射轉化為電量的一種元器件，它有著廣泛的用途，從粒子探測望遠鏡到大型強子對撞機，再到對紫外線敏感的太陽鏡，到處都有光電探測器。光電探測器的原理是由輻射引起被照射材料電導率發生改變。光電探測器在軍事和國民經濟的各個領域有廣泛用途。在可見光或近紅外波段主要用于射線測量和探測、工業自動控制、光度計量等；在紅外波段主要用于紅外熱成像、紅外遙感等方面。光電導體的另一應用是用它做攝像管靶面。為了避免光生載流子擴散引起圖像模糊，連續薄膜靶面都用高阻多晶材料，如PbS-PbO、Sb2S3等。其他

巖礦分析系統在環境地質等領域中具有廣泛的應用前景2023/10/25

巖礦分析系統的主要優點是快速、準確、并且具有非破壞性。可以對不同的巖礦樣品進行綜合的分析，為地質勘探、礦產資源評價和地質災害預警提供科學依據，在地質、礦產地質、環境地質等領域具有廣泛的應用前景。巖礦分析系統的常見問題及解決方法可以包括以下幾個方面：1.數據質量問題：-問題表現：數據異常、數據缺失等。-解決方法：檢查數據采集過程中的儀器設置是否正確，重新采集數據；檢查數據處理過程中的算法和參數是否正確，優化數據處理方法；補充缺失數據。2.算法準確性問題：-問題表現：分析結果與實際情況不一致。-解決