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2022
07-21

分析造成激光干涉儀測量誤差的幾個因素
激光干涉儀是精度較高的線性位移測量儀器，其光波可以直接對米進行定義，可溯源至國家標準。但是我們在使用中往往會出現(xiàn)檢測偏離值，偏離我們的預估，以至于在高精度檢測時，對設(shè)備產(chǎn)生懷疑。1、阿貝誤差因測量光學鏡組的安裝高度不在被測設(shè)備的運動軸上引起的測量誤差稱之為阿貝誤差。產(chǎn)生的原因是設(shè)備移動時存在俯仰、扭擺差，因此光學鏡組與運動軸偏置距離越遠，引起的阿貝誤差越大。2、環(huán)境因素環(huán)境補償單元能準確采集空氣溫度、壓力、相對濕度信息，基于Edlen公式計算空氣折射率，以此對激光波長進行補償。同時環(huán)境補償單元中
2022
06-22

你了解紋影法的原理和應用嗎？
紋影法，又稱紋影技術(shù)，包括黑、白紋影法，彩色紋影法和干涉紋影法，是用紋影儀系統(tǒng)進行流場顯示和測量的常用光學方法。紋影法具有結(jié)果簡單，成像技術(shù)好，精度高等優(yōu)勢，將人眼不可見的流體密度變化轉(zhuǎn)化為光強信息記錄下來，使得對流場的觀測更為直接形象，在流體力學實驗中具有廣泛的應用，可用于觀測氣流的邊界層、燃燒、激波、氣體內(nèi)的冷熱對流以及風洞或水洞流場。原理：紋影法是力學實驗中一種常用的光學觀測方法，利用光在被測流場中的折射率梯度正比于流場的氣流密度的原理，將流場中密度梯度的變化轉(zhuǎn)變?yōu)橛涗浧矫嫔舷鄬鈴姷淖兓?
2022
05-26

LED數(shù)碼光彈儀，用光學的方法進行應力測量
光彈性法是一種光學應力測量方法。它利用具有雙折射性能的透明材料制作成與實際工程結(jié)構(gòu)、部件或零件幾何形狀相似的模型，并在模型上施加與實際部件相似的載荷，根據(jù)光彈性條紋即可計算模型邊界和內(nèi)部各點的應力，再由相似理論換算成原件上的應力，其精度能滿足工程設(shè)計的要求。光彈性法可以測量幾何形狀與載荷條件較為復雜的構(gòu)件應力，特別是可測量其它方法難以解決的應力集中及內(nèi)部應力問題。LED數(shù)碼光彈儀是以光彈性法為原理，用光學的方法進行應力測量的儀器，可以研究幾何形狀和載荷條件都比較復雜的工程構(gòu)件的應力分布狀態(tài)，特別
2022
04-20

光學干涉儀都有哪些應用領(lǐng)域？
干涉儀是利用光學干涉原理測量光程之差從而測定有關(guān)物理量的精密光學儀器。一般來說,只要是利用光干涉的原理來量測的儀器便可以稱為干涉儀。一般來說，最初入射光先經(jīng)過某種分束器（部分透射反射鏡）分成單獨的兩束光，可能有的光束會經(jīng)過外界環(huán)境的影響（例如，長度變化或者經(jīng)過折射率變化的透明介質(zhì)），然后在另一個分束器處光束再次符合。得到的光束功率的空間分布就可以用于測量。光學干涉儀的應用極為廣泛，主要有如下幾方面：1、長度的精密測量在雙光束干涉儀中，若介質(zhì)折射率均勻且保持恒定，則干涉條紋的移動是由兩相干光幾何路
2022
03-25

使用光彈儀以測量應力為主方向
光彈性力學實驗是應用光學原理研究彈性力學問題的一種實驗應力分析方法。將具有雙折射效應的透明材質(zhì)制成的結(jié)構(gòu)模型置于偏振光場中，給模型施加載荷時，即可看到模型上產(chǎn)生的干涉條紋圖，測量干涉條紋，就能確定模型在受載狀態(tài)下的應力分布。對于斷裂力學、巖土力學、生物力學、粘彈性理論和復合材料力學等，可以用光彈性法驗證其新理論、新假設(shè)的合理性和有效性，為其發(fā)展提供科學依據(jù)。光彈儀是一種經(jīng)典的又是教學和工程中常用的光測力學儀器，儀器由漫射光源、偏光系充、加力架和相機組成。起偏鏡和檢偏鏡可以同步回轉(zhuǎn)，以測量應力主方
2022
03-16

介紹光彈儀的兩種類型
光測彈性儀是應用偏振光干涉原理對應力作用下能產(chǎn)生人工雙折射材料做成的力學構(gòu)件模型進行實驗應力測試的儀器，簡稱光彈儀。測量光彈性模型受載時所產(chǎn)生的等差線和等傾線干涉條紋以研究受力構(gòu)件中應力分布情況的實驗裝置。應用它可以通過模型在實驗室內(nèi)進行大型建筑構(gòu)件、水壩壩體、重型機械部件的應力和應力分布的測試，并可以在模型上直接看到被測件的全部應力分布和應力集中情況。先用環(huán)氧樹脂或聚碳酸酯等光彈性材料制成同構(gòu)件相似的模型，受力后，以偏振光透過模型，由于應力的存在產(chǎn)生光的雙折射現(xiàn)象，再透過檢偏振器產(chǎn)生光的干涉現(xiàn)
2022
03-11

數(shù)碼光彈儀的工作原理介紹
數(shù)碼光彈儀是采用光學靈敏性材料制成與實物相似的模型，在動載荷作用下，用圓偏振光照射，在成像地板上直接記錄模型中應力等差線的一種光學測量方法，它可以真實地反映出爆破過程的信息與規(guī)律。態(tài)光彈法研究彈性體內(nèi)動態(tài)應力和應力波傳播規(guī)律,可為瞬態(tài)應力現(xiàn)象的理論研究和工程應用提供實驗依據(jù)。如在沖擊載荷下的應力波傳播和動態(tài)應力集中問題,以及結(jié)構(gòu)中裂紋的擴展過程和規(guī)律等方面做出了重要貢獻,在航空航天、機械制造、土木工程等諸多領(lǐng)域得到廣泛應用。數(shù)碼光彈儀廣泛應用于工程力學、土木工程、斷裂力學、巖石力學、生物力學、粘
2022
01-20

介紹時間間隔測量儀的使用方法
目前，國內(nèi)外所使用的時間間隔測量方法，有直接計數(shù)法、模擬內(nèi)插法、游標法等。直接計數(shù)法一-般是用計數(shù)器對來自時基的輸入脈沖進行計數(shù)，使主門的開啟時間等于啟動脈沖和停止脈沖之間的時間間隔，于是計數(shù)器讀出的脈沖數(shù)與被測時間間隔成正比。這種方法較簡單，但精度不高。模擬內(nèi)插法和游標法都是用模擬的方法將時間間隔進行處理后再進行計數(shù)，雖然精度提高了,但線路設(shè)計復雜。時間-電壓變換法是利用電容的充放電時間進行時間間隔測量，它必須有A/D轉(zhuǎn)換，速度較慢，且抗干擾能力較弱。時間間隔測量儀測量時，將被測間隔分為兩部分
2022
01-13

馬赫-曾德干涉儀的使用及維護注意事項介紹
馬赫-曾德干涉儀由于不帶有纖端反射鏡，需要增加一個3dB分路器。光源發(fā)出的相干光經(jīng)3dB分路器分為光強1：1的兩束光分別進入信號臂光纖和參考臂光纖，兩束光經(jīng)第二個3dB分路器匯合相干形成干涉條紋。M—Z干涉儀的優(yōu)點是不帶纖端反射鏡，克服了邁克耳遜干涉儀回波干擾的缺點，因而在光纖傳感技術(shù)領(lǐng)域得到了比邁克耳遜干涉儀更為廣泛的應用。使用馬赫-曾德干涉儀的注意事項：1、儀器應放置在干燥、清潔以及無振動的環(huán)境中應用。2、在移動儀器時，為防止導軌變形，應托住底座再進行移動。3、儀器的光學零件在不用時，應在清
2021
12-29

說一說多通道光子多普勒測速儀的工作原理
多通道光子多普勒測速儀PDV基于光學多普勒效應，全部采用單模光纖傳輸光信號，利用光學干涉混頻技術(shù)獲得物體的速度信息。在沖擊波和爆轟物理研究中發(fā)揮著重要的作用，其能連續(xù)的、非接觸的測量各種材料在沖擊波作用下的自由面速度歷史，從而對材料的狀態(tài)方程、斷裂特性、剪切效應以及界面不穩(wěn)定性等進行研究。例如在材料動態(tài)響應特性研究中，需要連續(xù)測量飛層在爆轟過程中的速度、加速度與位移歷史，以研究爆轟波與飛層的相互作用規(guī)律、以及飛層是否發(fā)生層裂等，為材料的動態(tài)響應研究提供實驗數(shù)據(jù)。該技術(shù)具有非接觸測量、時間分辨率高
2021
12-23

紋影法是力學實驗中一種常用的光學觀測方法
紋影法是力學實驗中一種常用的光學觀測方法。其基本原理，是利用光在被測流場中的折射率梯度正比于流場的氣流密度進行測量，廣泛用于觀測氣流的邊界層、燃燒、激波、氣體內(nèi)的冷熱對流以及風洞或水洞流場。紋影儀一種利用光在不同介質(zhì)中的折射率不同的原理,來研究氣流情況的光學轉(zhuǎn)置。用光學的方法研究氣流,在近代航空工程上早已采用。喬布雷奧所用的縫隙法就是紋影儀的工作原理。紋影成像是一種在透明介質(zhì)（如空氣和水）中將失真可視化的流行技術(shù)。這些失真可能與溫度、密度、壓力和組成成分這些重要的物理參數(shù)有關(guān)，因此紋影效應可以用
2021
11-28

粒子圖像測速技術(shù)在流體測量中占有重要的地位
粒子圖像測速，是一種用多次攝像以記錄流場中粒子的位置，并分析攝得的圖像，從而測出流動速度的方法。其基本原理是在流場中布撒示蹤粒子，并用脈沖激光片光源入射到所測流場區(qū)域中，通過連續(xù)兩次或多次曝光，粒子的圖像被記錄在底片上或CCD相機上。采用光學楊氏條紋法、自相關(guān)法或互相關(guān)法，逐點處理PIV底片或CC記錄的圖像，獲得流場速度分布。因采用的記錄設(shè)備不同，又分別稱FPIV（用膠片作記錄）和數(shù)字式圖像測速DPW（用CCD相機作記錄）。粒子圖像測速技術(shù)是在傳統(tǒng)流動顯示技術(shù)基礎(chǔ)上，利用圖形圖像處理技術(shù)發(fā)展起來
2021
11-17

粒子圖像測速技術(shù)的優(yōu)點表現(xiàn)在這3個方面
粒子圖像測速，是一種用多次攝像以記錄流場中粒子的位置，并分析攝得的圖像，從而測出流動速度的方法。其基本原理是在流場中布撒示蹤粒子，并用脈沖激光片光源入射到所測流場區(qū)域中，通過連續(xù)兩次或多次曝光，粒子的圖像被記錄在底片上或CCD相機上。采用光學楊氏條紋法、自相關(guān)法或互相關(guān)法，逐點處理PIV底片或CC記錄的圖像，獲得流場速度分布。因采用的記錄設(shè)備不同，又分別稱FPIV（用膠片作記錄）和數(shù)字式圖像測速DPW（用CCD相機作記錄）。在流場中布撒示蹤粒子，并用脈沖激光片光源入射到所測流場區(qū)域中，通過連續(xù)兩
2021
10-27

光子多普勒測速儀的選型要掌握這些內(nèi)容
光子多普勒測速儀PDV基于光學多普勒效應，全部采用光纖傳輸光信號，利用光學干涉混頻技術(shù)獲得物體的速度信息。整個系統(tǒng)采用全光纖連接，不僅提高系統(tǒng)的穩(wěn)定性、減小體積，而且由于采用高性能的單模光纖，使系統(tǒng)的響應時間不再受限于光纖色散，可實現(xiàn)50ps量級時間分辨率的速度測量。干涉儀主機的結(jié)構(gòu)組成經(jīng)過高速實驗驗證及優(yōu)化，達到*的輸出信號信噪比、有效地降低了測速誤差。光子多普勒測速儀示蹤粒子是利用運動微粒散射光的多普勒頻移來獲的速度信息的。因此它實際上測的是微粒的運動速度，同流體的速度并不*一樣。幸運的是，
2021
10-14

介紹頻率計測量時間間隔的方法
時間間隔測量是指測量一個特定的“起始”事件至一個“終止”事件的時間差。時間間隔測量可以用來測量電路時延、雷達脈沖間隔、粒子的飛行時間、電纜長度、脈沖周期、脈沖寬度、上升時間、相位差等。時間間隔測量通常會用一個電子計數(shù)器（或者叫頻率計）實現(xiàn)。Gate信號在“Start”信號到來時打開，在“Stop”信號到來時關(guān)閉，同時在Gate信號打開時對時鐘脈沖進行累積計數(shù)，根據(jù)記得的時鐘脈沖個數(shù)就可以計算出“Start”和“Stop”信號間的時間差。頻率計測量時間間隔的實現(xiàn)方法如下。通道Ａ送來的“起始”信號啟
2021
08-19

一文帶你了解數(shù)碼光彈儀的實驗方法
光測彈性儀是應用偏振光干涉原理對應力作用下能產(chǎn)生人工雙折射材料做成的力學構(gòu)件模型進行實驗應力測試的儀器，簡稱光彈儀。應用它可以通過模型在實驗室內(nèi)進行大型建筑構(gòu)件、水壩壩體、重型機械部件的應力和應力分布的測試，并可以在模型上直接看到被測件的全部應力分布和應力集中情況。數(shù)碼光彈儀方法是采用光學靈敏性材料制成與實物相似的模型，在動載荷作用下，用圓偏振光照射，在成像地板上直接記錄模型中應力等差線的一種光學測量方法，它可以真實地反映出爆破過程的信息與規(guī)律。光彈法研究彈性體內(nèi)動態(tài)應力和應力波傳播規(guī)律,可為瞬
2021
08-17

介紹紋影儀系統(tǒng)調(diào)節(jié)的步驟
紋影儀是利用面鏡和透鏡，紋影攝影技術(shù)可以拍到平時肉眼看不到的氣流形態(tài)。它的原理是利用氣體密度的變化，導致折射率變化，使光的傳播受到擾動，進而將不可看見的氣流變化，轉(zhuǎn)化成可以被看見的圖像。實驗使用的紋影儀屬于反射式平行光紋影儀，反射式的光學成像帶有軸外光線成像造成的慧差和像散兩類相差，采用“Z”形光路布置，并調(diào)整刀口，可以減少或消除這兩類像差。紋影儀是根據(jù)光線通過不同密度的氣流而產(chǎn)生的角偏轉(zhuǎn)來顯示其折射率，是一種測量光線微小偏轉(zhuǎn)角的裝置。它將流場中密度梯度的變化轉(zhuǎn)變?yōu)橛涗浧矫嫔舷鄬鈴姷淖兓箍?
2021
07-05

全光纖激光干涉測速儀主要應用領(lǐng)域介紹
全光纖激光干涉測速儀DISAR基于光學多普勒效應，全部采用單模光纖傳輸光信號，利用光學干涉混頻技術(shù)獲得物體的連續(xù)速度信息。在沖擊波物理，爆轟物理，內(nèi)彈道研究，新材料科學，激光高能粒子與材料的相互作用，空間科學等研究領(lǐng)域具有廣泛的應用。全光纖激光干涉測速儀DISAR整個系統(tǒng)采用全光纖連接，不僅提高系統(tǒng)的穩(wěn)定性、減小體積，而且由于采用高性能的單模光纖，使系統(tǒng)的響應時間不再受限于光纖色散，可實現(xiàn)50ps量級時間分辨率的速度測量。干涉儀主機的結(jié)構(gòu)組成經(jīng)過高速實驗驗證及優(yōu)化，達到的輸出信號信噪比、有效地降
2021
07-02

粒子圖像測速不同分類介紹
粒子圖像測速，是一種用多次攝像以記錄流場中粒子的位置，并分析攝得的圖像，從而測出流動速度的方法。其基本原理是在流場中布撒示蹤粒子，并用脈沖激光片光源入射到所測流場區(qū)域中，通過連續(xù)兩次或多次曝光，粒子的圖像被記錄在底片上或CCD相機上。采用光學楊氏條紋法、自相關(guān)法或互相關(guān)法，逐點處理PIV底片或CC記錄的圖像，獲得流場速度分布。粒子圖像測速不同分類介紹：1.標準PIV使用單個CCD或CMOS相機測量平面（2D2C）中的兩個速度分量。2.立體PIV使用兩個相機測量平面中的三個速度分量（2D3C）。3
2021
06-28

粒子圖像測速技術(shù)的原理和突出優(yōu)點表現(xiàn)在哪些方面？
粒子圖像測速，是一種用多次攝像以記錄流場中粒子的位置，并分析攝得的圖像，從而測出流動速度的方法。粒子圖像測速技術(shù)是在傳統(tǒng)流動顯示技術(shù)基礎(chǔ)上，利用圖形圖像處理技術(shù)發(fā)展起來的一種新的流動測量技術(shù)。綜合了單點測量技術(shù)和顯示測量技術(shù)的優(yōu)點，克服了兩種測量技術(shù)的弱點而成的，既具備了單點測量技術(shù)的精度和分辨率，又能獲得平面流場顯示的整體結(jié)構(gòu)和瞬態(tài)圖像?；驹斫榻B：在流場中布撒示蹤粒子，并用脈沖激光片光源入射到所測流場區(qū)域中，通過連續(xù)兩次或多次曝光，粒子的圖像被記錄在底片上或CCD相機上。采用光學楊氏條紋法

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