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蘇州福佰特儀器科技有限公司
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XAD-200全自動(dòng)多功能膜厚分析儀推薦2023/09/04
全新上照式設(shè)計(jì),搭載全自動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)和影像識(shí)別功能,既能檢測(cè)納米級(jí)厚度、微小樣品和凹槽異形件的膜厚,也可滿足微區(qū)RoHS檢測(cè)及全元素成分分析。1)搭載微聚焦加強(qiáng)型X射線發(fā)生器和*光路轉(zhuǎn)換聚焦系統(tǒng),最小測(cè)量面積達(dá)0.03mm22)擁有無損變焦檢測(cè)技術(shù),手動(dòng)變焦功能,可對(duì)各種異形凹槽件進(jìn)行無損檢測(cè),凹槽深度范圍0-90mm3)核心EFP算法,可對(duì)多層多元素,包括同種元素在不同層都可快、準(zhǔn)、穩(wěn)的做出數(shù)據(jù)分析(釹鐵硼磁鐵上Ni/Cu/Ni/FeNdB,精準(zhǔn)檢測(cè)第一層Ni和第三層Ni的厚度)4)配備全自動(dòng)可
XTD-200全自動(dòng)型膜厚儀推薦2023/09/04
全新上照式設(shè)計(jì),微聚焦,搭載可編程自動(dòng)位移平臺(tái),無人值守、自動(dòng)檢測(cè)多樣品,且更加智能化,采用自主研發(fā)的AI影像識(shí)別功能可完成智能尋點(diǎn),自動(dòng)匹配測(cè)試。對(duì)各超大異形件及微小密集型多點(diǎn)的測(cè)試更加高效、智能。XTD-200是一款全自動(dòng)型鍍層測(cè)厚儀/膜厚測(cè)試儀/光譜測(cè)厚儀,全新上照式設(shè)計(jì),微聚焦,搭載可編程自動(dòng)位移平臺(tái),無人值守、自動(dòng)檢測(cè)多樣品,且更加智能化,采用自主研發(fā)的AI影像識(shí)別功能可完成智能尋點(diǎn),自動(dòng)匹配測(cè)試。對(duì)各超大異形件及微小密集型多點(diǎn)的測(cè)試更加高效、智能。
XTU-4C專業(yè)性能型膜厚儀介紹2023/09/04
下照式微聚焦多準(zhǔn)型,搭載*EFP算法軟件和微光聚集技術(shù),配合切換準(zhǔn)直器在檢測(cè)各微小及凹凸面樣品時(shí)檢出限更低,儀器壽命更長,性能更穩(wěn)定。XTU-4C是一款專業(yè)性能型鍍層測(cè)厚儀/膜厚測(cè)試儀/光譜測(cè)厚儀,下照式微聚焦多準(zhǔn)型設(shè)計(jì),搭載*EFP算法軟件和微光聚集技術(shù),配合切換準(zhǔn)直器在檢測(cè)各微小及凹凸面樣品時(shí)檢出限更低,儀器壽命更長,性能更穩(wěn)定。微聚焦加強(qiáng)型X射線裝置:可測(cè)試各類極微小的樣品,即使檢測(cè)面積為0.003mm2的樣品也可輕松、精準(zhǔn)檢測(cè)變焦裝置及位置補(bǔ)償算法:可對(duì)各種異性凹槽進(jìn)行檢測(cè),凹槽深度測(cè)量
XD-1000鍍層測(cè)厚儀介紹2023/09/04
XD-1000是一款高性價(jià)比型鍍層測(cè)厚儀/膜厚測(cè)試儀/光譜測(cè)厚儀,上照式光譜測(cè)厚儀,對(duì)各類鍍層厚度分析的同時(shí)可對(duì)電鍍液進(jìn)行分析,適用于各種超大件、異形凹槽件、微小密集型多點(diǎn)測(cè)試或自動(dòng)逐個(gè)檢測(cè)大量的小部件,如線路板、引線支架、衛(wèi)浴產(chǎn)品等。搭載四焦技術(shù),人機(jī)交互全面優(yōu)化,操作更加方便快捷。可靠的高性能測(cè)試精度、穩(wěn)定性高,在提供高質(zhì)量的同時(shí)減少浪費(fèi)和停機(jī)時(shí)間。更高的性價(jià)比制造工藝升級(jí),更具性價(jià)比。XD-1000是一款高性價(jià)比型鍍層測(cè)厚儀/膜厚測(cè)試儀/光譜測(cè)厚儀,上照式光譜測(cè)厚儀,對(duì)各類鍍層厚度分析的同
XU-100膜厚測(cè)試儀介紹2023/09/04
全面升級(jí)XU-100X熒光光譜測(cè)厚儀高精尖檢測(cè)技術(shù),搞定企業(yè)品質(zhì)管控!XU-100是一款高性價(jià)比型鍍層測(cè)厚儀/膜厚測(cè)試儀/光譜測(cè)厚儀,采用下照式C型腔體設(shè)計(jì),搭配微聚焦X射線發(fā)生器和高集成垂直光路系統(tǒng),以及高敏變焦測(cè)距裝置,對(duì)各種大小異形件都可快速、精準(zhǔn)、無損測(cè)量。檢測(cè)各種金屬鍍層,檢出限可達(dá)0.005μm,最小測(cè)量面積0.2mm2,凹槽深度測(cè)量范圍可達(dá)0-30mm,是一款測(cè)量鍍層厚度性價(jià)比高。XU-100是一款高性價(jià)比型鍍層測(cè)厚儀/膜厚測(cè)試儀/光譜測(cè)厚儀,采用下照式C型腔體設(shè)計(jì),搭配微聚焦X射
磁性材料分析儀簡介2023/09/03
磁鐵的成分是鐵、鈷、鎳等原子,其原子的內(nèi)部結(jié)構(gòu)比較特殊,本身就具有磁矩。磁鐵能夠產(chǎn)生磁場,具有吸引鐵磁性物質(zhì)如鐵、鎳、鈷等金屬的特性。將條形磁鐵的中點(diǎn)用細(xì)線懸掛起來,靜止的時(shí)候,它的兩端會(huì)各指向地球南方和北方,指向北方的一端稱為指北極或N極,指向南方的一端為指南極或S極。如果將地球想象成一塊大磁鐵,則地球的地磁北極是指南極,地磁南極則是指北極。磁鐵與磁鐵之間,同名磁極相排斥、異名磁極相吸引。所以,指南針與南極相排斥,指北針與北極相排斥,而指南針與指北針則相吸引。磁性材料元素成分含量分析儀用來檢測(cè)
磁性材料成分含量分析儀介紹2023/09/03
磁性材料元素成分含量分析儀用來檢測(cè)各種材料中的微量鐵,包含用于電線絕緣用塑料光纖的原料高純度玻璃的檢測(cè)。它也可用于檢測(cè)食品、寶石、電池材料、耐火材料、藥品以及許多其他材料中的微量金屬鐵的含量。磁性材料元素成分含量分析儀能對(duì)磁場作出某種方式反應(yīng)的材料稱為磁性材料。按照物質(zhì)在外磁場中表現(xiàn)出來磁性的強(qiáng)弱,可將其分為抗磁性物質(zhì)、順磁性物質(zhì)、鐵磁性物質(zhì)、反鐵磁性物質(zhì)和亞鐵磁性物質(zhì)。大多數(shù)材料是抗磁性或順磁性的,它們對(duì)外磁場反應(yīng)較弱。鐵磁性物質(zhì)和亞鐵磁性物質(zhì)是強(qiáng)磁性物質(zhì),通常所說的磁性材料即指強(qiáng)磁性材料。對(duì)
永磁材料元素成分檢測(cè)儀介紹2023/09/03
測(cè)量永磁材料磁性能的智能化系統(tǒng),由勵(lì)磁與測(cè)量主機(jī)、電磁鐵、磁測(cè)量傳感器、計(jì)算機(jī)及測(cè)量軟件等組成。適用于測(cè)量各類型永磁材料的磁性能,并繪制相關(guān)磁特性曲線,具有操作便捷、測(cè)量快速、重復(fù)性好、可靠性高等特點(diǎn)。X熒光光譜儀是利用XRF技術(shù)解決國內(nèi)水泥廠、鋼鐵公司、粉末冶金企業(yè)等對(duì)復(fù)雜成份、多類型櫚中元素的快速、準(zhǔn)確分析。該技術(shù)的主要特征為:利用低能X光激發(fā)待測(cè)元素,對(duì)Si、S、AI、Na、Mg、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、等元素有良好的激發(fā)效果,并且測(cè)試時(shí)間短,大大提高了檢測(cè)效率和工作效率;采用UHR
磁性材料成分元素檢測(cè)儀介紹2023/09/03
X熒光光譜儀是利用XRF技術(shù)解決國內(nèi)水泥廠、鋼鐵公司、粉末冶金企業(yè)等對(duì)復(fù)雜成份、多類型櫚中元素的快速、準(zhǔn)確分析。該技術(shù)的主要特征為:利用低能X光激發(fā)待測(cè)元素,對(duì)Si、S、AI、Na、Mg、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、等元素有良好的激發(fā)效果,并且測(cè)試時(shí)間短,大大提高了檢測(cè)效率和工作效率;采用UHRD探測(cè)器,具有良好的能量線性和能量分辨率,及良好的能譜特性,較高的峰背比;采用自動(dòng)穩(wěn)譜裝置,保證了儀器工作的*性;利用解譜技術(shù)使譜峰分解,使采用UHRD探測(cè)器的分析儀對(duì)Si、S、AI等輕元素的測(cè)試具有和
磁性材料元素成分檢測(cè)儀介紹2023/09/03
磁性材料ROHS檢測(cè)儀概述:磁性材料ROHS檢測(cè)儀可對(duì)Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果,利用XRF技術(shù)可對(duì)高含量的Cr、Ni、Mo等重點(diǎn)關(guān)注的元素進(jìn)行分析,在冶煉過程控制中起到了測(cè)試時(shí)間短,大大提高了檢測(cè)效率和工作效率的作用。OverviewofmagneticmaterialRoHSdetector:ThemagneticmaterialRoHSdetectorhasgoodexcitationeffectonlightelementssuchasSi,P,s,AlandMg
浪聲小型臺(tái)式桌面式X射線衍射儀介紹2023/08/19
界FRINGE桌面式X射線衍射儀在X射線光束通過索拉狹縫、發(fā)散狹縫照射在樣品上,樣品臺(tái)位于測(cè)角儀中心,基于反射幾何θs-θd,X射線光束在滿足布拉格定律時(shí),在特定的方向上發(fā)生衍射現(xiàn)象,經(jīng)過防散射狹縫、索拉狹縫、接收狹縫到達(dá)X射線探測(cè)器上,最終經(jīng)過數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)在分析軟件上展現(xiàn)出采集的衍射圖譜。界FRINGE是公司自主研發(fā)的一款桌面式X射線衍射儀器,其融合XRD和計(jì)算機(jī)軟件等多項(xiàng)技術(shù),可快速對(duì)粉末、塊狀或薄膜等形態(tài)的樣品進(jìn)行主要物相定性、定量分析、晶體結(jié)構(gòu)分析、材料結(jié)構(gòu)分析及結(jié)晶度測(cè)定,具有精度高、
X射線衍射儀介紹2023/08/19
儀器采用*技術(shù)制造,測(cè)角儀測(cè)角準(zhǔn)確度與精確度均達(dá)到*水平。光源與探測(cè)器能長時(shí)間穩(wěn)定工作,保證衍射峰位、峰形和強(qiáng)度測(cè)量準(zhǔn)確、精確。進(jìn)行物相結(jié)構(gòu)分析,包括:物相含量、晶粒大小判斷、結(jié)晶度、奧氏體含量、晶胞測(cè)定、二類應(yīng)力計(jì)算、衍射線條指標(biāo)化、物相結(jié)構(gòu)等分析;薄膜材料分析,小角粒徑分析等。儀器包括高穩(wěn)定性X射線發(fā)生器、高精密測(cè)角儀、封閉正比探測(cè)器(或SDD探測(cè)器、或一維高速半導(dǎo)體陣列探測(cè)器)、數(shù)據(jù)處理軟件、相關(guān)應(yīng)用軟件等。儀器特點(diǎn)長壽命X射線管:金屬陶瓷X射線管,具有散熱好、運(yùn)行功率高(40kV×40m
便攜式vocs檢測(cè)儀應(yīng)用范圍2023/08/18
?可對(duì)空氣中的TVOC、溫度、濕度進(jìn)行監(jiān)測(cè),并將數(shù)據(jù)上傳至大氣監(jiān)測(cè)云平臺(tái);?可滿足工業(yè)衛(wèi)生、應(yīng)急監(jiān)測(cè)、醫(yī)院氣體監(jiān)測(cè)等多種監(jiān)測(cè)場景的使用;?一體化手持式設(shè)計(jì),滿足在醫(yī)院等特殊場地監(jiān)測(cè)任務(wù)中多樣化的便攜使用需求;?工業(yè)級(jí)LCD顯示屏,智能觸摸操作方式,ppb與μg/m3自由切換;?出廠前較零處理,傳感器標(biāo)氣標(biāo)定,出廠一致性校準(zhǔn);?出廠后可直接使用,也可自行進(jìn)行外接標(biāo)氣進(jìn)行較零;?泵吸式采樣,內(nèi)置微型抽氣泵,提高設(shè)備采樣數(shù)據(jù)的穩(wěn)定性;?采用便利的設(shè)備維護(hù),維護(hù)周期長、運(yùn)維成本低;VOC-3000便攜式
便攜式VOCS檢測(cè)儀的工作原理2023/08/18
便攜式VOCS檢測(cè)儀的工作原理便攜式VOCS檢測(cè)儀主要通過以下幾種原理進(jìn)行檢測(cè):1.光離子化檢測(cè)(PID)光離子化檢測(cè)是利用紫外光源激發(fā)待測(cè)物質(zhì),使其產(chǎn)生離子化現(xiàn)象并產(chǎn)生電流信號(hào),進(jìn)而計(jì)算出VOCS濃度。PID具有較高的靈敏度和選擇性,適用于多種有機(jī)化合物的檢測(cè)。2.氣相色譜法(GC)氣相色譜法是將待測(cè)樣品在載氣流動(dòng)作用下,通過色譜柱分離,然后用檢測(cè)器檢測(cè)各組分,并通過計(jì)算機(jī)處理得到濃度。便攜式氣相色譜儀具有較高的分辨率和準(zhǔn)確性,但操作相對(duì)復(fù)雜。3.紅外光譜法(IR)紅外光譜法通過測(cè)量物質(zhì)吸收特
什么是便攜式VOCS檢測(cè)儀2023/08/18
便攜式VOCS(揮發(fā)性有機(jī)化合物)檢測(cè)儀是一種輕便、便攜的儀器,用于實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)和測(cè)量環(huán)境中的揮發(fā)性有機(jī)化合物濃度。VOCS是一類具有高度揮發(fā)性的有機(jī)化學(xué)物質(zhì),包括甲醛、苯、甲苯、二甲苯等。由于這些物質(zhì)在日常生活和工業(yè)生產(chǎn)中廣泛存在,并且可能對(duì)人體健康和環(huán)境產(chǎn)生負(fù)面影響,因此對(duì)VOCS的檢測(cè)與監(jiān)控變得越來越重要。VOC-3000便攜式VOCs檢測(cè)儀,采用FID檢測(cè)器(氫火焰離子化檢測(cè)器),儀器采用防爆設(shè)計(jì)、整機(jī)體積小、重量輕、檢測(cè)性能好、操作簡單,滿足客戶對(duì)于多種現(xiàn)場快速準(zhǔn)確檢測(cè)VOCs的要求。儀器
X-RAY檢測(cè)設(shè)備介紹2023/08/18
x-ray檢測(cè)設(shè)備應(yīng)用于電子行業(yè),給BGA、半導(dǎo)體、封裝元件、鋁壓模鑄件、鋰電行業(yè),電子元器件、汽車零部件、,鋁壓鑄模鑄件、模壓塑料,陶瓷制品等進(jìn)行X-RAY檢測(cè)。X-Ray設(shè)備檢測(cè)原理基本都是X-射線投影顯微鏡。在高壓電的作用下,X射線發(fā)射管產(chǎn)生X射線通過測(cè)試樣品(例如PCB板,SMT等),再根據(jù)樣品材料本身密度與原子量的不同,并且對(duì)X射線也都是會(huì)有不同的吸收量而在圖像接收器上產(chǎn)生影像的。測(cè)量工件的密度決定著X光的強(qiáng)弱,密度越高的物質(zhì)陰影越深。越靠近X射線管陰影越大,反之陰影越小,這也就是幾何
?rohs六種有害元素檢測(cè)儀介紹2023/07/17
2003年2月13號(hào):歐洲議會(huì)及理事會(huì)制定的RoHS指令中限制使用的有害物質(zhì)為:有害重金屬:鉛(Pb)、汞(Cd)、鎘(Cd)、六價(jià)鉻(Cr6+)有害有機(jī)物:多溴聯(lián)苯、多溴聯(lián)苯醚。2006年7月1日之后:原則上,含有RoHS指令所限制使用的六類有害物質(zhì)的電子電器產(chǎn)品將不允許進(jìn)入歐盟市場.產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)rohs六種有害元素檢測(cè)儀的優(yōu)點(diǎn)主要有六個(gè)組成部分,他們分別是:1.分析速度高。測(cè)定用時(shí)與測(cè)定精密度有關(guān),但一般都很短,60~200分鐘就可以測(cè)完樣品中的Pb、Cd、Cr、Hg、Br、Cl、待測(cè)元素。2.
X-RAY數(shù)字成像PCB焊接缺陷檢測(cè)儀介紹2023/07/12
PCB的應(yīng)用非常廣泛,但作為市場主流的X-RAY無損檢測(cè)設(shè)備,雖說只是輔助性檢測(cè),但可以用來檢測(cè)焊點(diǎn)上是否存在缺陷,包括但不限于空洞、焊料過多、焊料過少、焊料球、焊料脫開和焊料橋接等。由于PCBA大量的焊點(diǎn)處于隱蔽狀態(tài),如BGA倒裝芯片,通過AOI或人工目檢是無法檢測(cè)是否存在焊接異常,這使得X-RAY的市場需求越來越迫切。目前X-RAY檢測(cè)技術(shù)主要有二大類:透射X-RAY圖像(二維)和橫截面X-RAY圖像(三維CT),其中目前市場上主要以二維為主,CT比較罕見,這主要是由于CT單價(jià)太高,基本上都
X-Ray檢測(cè)設(shè)備主要優(yōu)勢(shì)2023/07/12
X-RAY檢測(cè)設(shè)備在國內(nèi)工業(yè)中的應(yīng)用越來越廣泛,那么很多人會(huì)問X-Ray檢測(cè)設(shè)備都有哪些主要優(yōu)勢(shì)?今天小編芾大家了解-下,一起看看吧。1、高靈敏度:X-Ray檢測(cè)設(shè)備具有高靈敏度,可以檢測(cè)出微小的缺陷,尤其是對(duì)于金屬表面的缺陷檢測(cè)特別有效,而傳統(tǒng)的檢測(cè)方法很難檢測(cè)出這種微小的缺陷。2、安全性:X-Ray檢測(cè)設(shè)備具有較高的安全性,因?yàn)閄-Ray技術(shù)沒有使用液體或有毒氣體,而且X-Ray波范圍內(nèi)的輻射量很小,不會(huì)對(duì)人體造成傷害。3、快速性:X-Ray檢測(cè)設(shè)備的檢測(cè)速度比傳統(tǒng)的檢測(cè)方法快得多,檢測(cè)效率
x-ray檢測(cè)設(shè)備的工作原理2023/07/12
在SMT一條生產(chǎn)線上,有這樣一種設(shè)備,X射線,俗稱X-RAY,具有穿透物體進(jìn)行透視的功能,因此常常用來進(jìn)行物體內(nèi)部缺陷的檢測(cè)。應(yīng)用范圍廣泛,其中電子半導(dǎo)體行業(yè)就需要借助X射線檢測(cè)設(shè)備的性能來進(jìn)行產(chǎn)品質(zhì)量的檢測(cè)。電子半導(dǎo)體經(jīng)常需要檢測(cè)SMT,電路板貼片。需要檢測(cè)的項(xiàng)目包括內(nèi)部氣泡,內(nèi)部夾渣,夾雜,裂紋,漏焊等。對(duì)于樣品無法以外觀方式檢測(cè)的位置,利用紀(jì)錄X-Ray穿透不同密度物質(zhì)后其光強(qiáng)度的變化,產(chǎn)生的對(duì)比效果可形成影像即可顯示出待測(cè)物之內(nèi)部結(jié)構(gòu),進(jìn)而可在不破壞待測(cè)物的情況下觀察待測(cè)物內(nèi)部有問題的區(qū)
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