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2025年3月26日至28日，由理學電企儀器（北京）有限公司與深圳華普通用科技有限公司聯合主辦的第24期“X射線熒光光譜分析技術及應用”培訓班在廣州美豪麗致酒店圓滿落幕。
本次培訓旨在提升X射線熒光光譜（XRF）技術的應用水平，促進分析技術的創新發展，邀請了全國各地的儀器用戶及行業專家，共計60余人參與。
通過理論授課與互動交流相結合的形式，在三天的學習中，助力客戶們深入掌握XRF技術的核心知識與實踐技能。
本次培訓課程設計系統全面，涵蓋XRF技術的基礎理論、儀器操作及實際應用，具體內容如下：
WDXRF基本原理
講師從X射線的產生、熒光原理、波長色散型XRF（WDXRF）儀器原理出發，深入淺出地解析了技術核心，為后續課程奠定理論基礎。
WDXRF硬件結構及維護
講述探測器、分光晶體、X射線管等關鍵部件的功能與維護要點，掌握常見故障的排查方法。
圖譜識別與定性半定量分析
結合元素譜圖例，了解如何通過特征峰識別元素種類，并利用軟件工具快速完成半定量分析。
基體效應與數學修正
針對XRF分析中基體效應對結果的干擾，課程詳細講解了經驗系數法、理論α系數法等修正模型的應用場景與操作技巧。
XRF樣品制備標準化流程
從粉末壓片法到熔融法制樣，講師強調了樣品均勻性、粒度控制等關鍵因素。
分析條件優化與自定義方法開發
指導學員根據樣品特性調整電壓、電流、測量時間等參數，并建立個性化的分析方法庫，顯著提升了儀器適用性
本次培訓通過理論與實踐深度融合，為XRF技術的推廣與應用奠定了堅實基礎。
未來，我們將不定期舉辦技術交流會，推動X射線熒光光譜技術在礦產、有色金屬等領域的創新應用，期待下次再見！
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