本文采用12:22（Li₂B₄O₇:LiBO₂=12:22）作熔劑制備氟石熔融片，用波長色散X射線熒光光譜儀測定氟石中的CaF₂、SiO₂、Fe₂O₃、SO₃、P₂O₅。本法測量準確度、精密度較好，所得結果可與濕法化學分析結果相比。

    關 鍵 詞  X射線熒光，氟石。

1 前言

氟石是我國的大宗出口礦產品，對外貿易合同中一般對CaF₂、SiO₂、Fe₂O₃、SO₃、P₂O₅的含量有較嚴格的規定。常規濕法化學分析^[1]存在操作復雜、分析時間長等問題。本文采用熔融制樣X射線熒光光譜法測定酸級和冶金級氟石中的CaF₂和雜質的含量，消除了試樣的粒度效應和礦物效應。并且選用混合熔劑12:22，解決了硫在制樣過程中容易揮發的問題。

2 實驗儀器及方法

2.1 儀器及測量條件

SRS3400型順序式X射線熒光光譜儀,銠靶X光管,功率4kW，德國Bruker公司制造，測量條件見表1。

ISP4×4半自動熔樣爐，澳大利亞ISP公司。

表 1  X射線熒光光譜儀的測量條件

2.2   試劑

2.2.1 12:22，Li₂B₄O₇:LiBO₂=12:22，X射線熒光光譜分析試劑，經400℃ 5小時灼燒；

2.2.2 LiBr溶液，5mg/mL；

2.2.3 LiNO₃溶液，220mg/mL；

2.2.4 試料:105℃下干燥2小時,粒度過100目。

2.3 試料片的制備

    稱取12:22（2.2.1）5.000g，試料（2.2.4）1.0000g于鉑黃坩堝中，用玻璃棒混勻，加入LiBr溶液（2.2.2）和LiNO₃溶液（2.2.3）各1mL，在電爐上烘干10分鐘后，放入1000℃的半自動熔樣爐中熔融，熔融過程中以每秒4次的頻率進行搖勻。10分鐘后倒入已預熱的鉑黃模具中，取出風冷5分鐘，試料片與模具自動剝離，取出待測。

3 實驗結果及分析

3.1 測量

    按所定的測量條件測定GBW07250~07254、CMSI、GSBD50001、GSBD50002等8個標準樣品的X射線熒光強度。按隨機分析軟件Spectra Plus 中的可變理論α影響系數法進行回歸及基體效應的校正，見公式1

C_i=slope×（I_i+K）×（1+∑α_ij×C_j）         （1）

式中  C_i、C_j   ：測量元素和影響元素的濃度

          slope、K：校準曲線的斜率和截距

           I_I     ：測量元素的X射線熒光強度

          α_ij       ：可變理論α影響系數

    成分的測量范圍及校準曲線的標準偏差見表2，T.CaF₂表示CaF₂加上以CaF₂計的CaCO₃的含量，測量的X射線熒光特征譜線為Ca Kα_1,2線。CaF₂測量的X射線熒光特征譜線為F Kα_1,2線，直接按CaF₂濃度和F Kα_1,2的X射線熒光強度進行線性回歸，不參加基體效應的校正。

表2    成分的測量范圍及校準曲線的標準偏差

3.2 試料片制備條件的影響

本文曾試圖采用粉末壓片法制樣，在測量過程中發現試樣的粒度對測量結果影響很大，尤其Si Kα_1,2的強度隨著試樣粒度的減小一直在增大，經過較長時間的研磨，也未能穩定。所以本文采用熔融制樣以消除試樣的粒度效應和礦物效應，但也帶來了熔融制樣的缺點，即熔融過程中硫的揮發和試樣被稀釋提高了檢出限。本文選用合適的試料片制備條件以減小和消除熔融制樣帶來的影響。

3.2.1 熔劑的選擇

X射線熒光光譜分析常用的熔劑為Li₂B₄O₇，Li₂B₄O₇制樣重復性好，但熔融溫度一般在1100℃。根據文獻^[3]介紹，在1100℃，即使樣品中的硫被氧化為SO₄^2-，也會以硫酸鋰的形式揮發。本文選用澳大利亞用于鐵礦分析的混合熔劑12:22，以降低熔融溫度（1000℃），圖1是Li₂B₄O₇在1100℃制樣的硫的校準曲線，圖2是12:22熔劑在1000℃制樣的硫的校準曲線?？梢娺x用12:22熔劑降低熔融溫度后有效地抑制了硫在制樣過程中的揮發。

3.2.2 稀釋比的選擇

    氟石標準樣品中磷的含量為7~84ppm，如果稀釋比過大，會影響磷的檢出限，因此為兼顧磷的檢出限和制出好的熔融片，選擇較低的稀釋比（1:5）。

3.3 基體效應的校正

隨機分析軟件Specra Plus中用可變理論α影響系數對基體效應進行校正，由于采用了隨濃度而變化的可變α系數，可以進行較寬濃度范圍的基體校正。表3是基體效應校正前后的校準曲線標準偏差的變化。從表3可以看出，標準偏差變化不大，氟石樣品中元素的原子序數較小和經熔融稀釋，元素間的吸收增強效應較小。

表3可變理論α影響系數校正前后的校準曲線標準偏差的比較

3.4 精密度試驗

    對同一氟石試料片重復測量10次，得儀器測量精密度，對同一氟石試料制備10個試料片進行測量，得方法測量精密度，見表4。

表4 儀器測量精密度和方法測量精密度（%）

    SRS3400型X射線熒光光譜儀配備了4kW的高壓發生器，zui大電流可達150mA，并且配置了2.09°的超粗準直器，在流氣計數器上安裝了0.6μm的膜，非常適合輕元素的分析。本文嘗試在電流133mA、電壓30kV的條件下測氟石中的氟，并且通過增加測量時間以減小計數的統計誤差，CaF₂的方法測量精密度為0.20%，已達到常規化學分析法的要求（化學分析的允許偏差為0.4~0.5%）。

3.5 本法與化學法的比較

    對4個氟石樣品按選定的測量條件進行測量，與化學法的對比結果見表5。

表5 XRF法和常規化學分析法分析結果比較（%）

4 結論

    1）熔融制樣X射線熒光光譜法測定氟石中的CaF₂、SiO₂、Fe₂O₃、SO₃、P₂O₅，測量準確度、精密度較好。

2）采用12:22混合熔劑，1000℃熔融，可以有效地抑制樣品中硫的揮發。

    3）輕元素F的方法測量精密度為0.20%，已達到常規化學分析法的要求。