牛津儀器推出款高性能X射線熒光測厚儀MAXXI6，提供高精度、快速可靠無損的鍍層厚度測量及材料分析，確保產品質量的一致性和高品質。

      此款鍍層測厚儀MAXXI6是基于X射線熒光光譜分析技術所開發，配備的高分辨率硅漂移器（SDD）、多準直器系統及開槽式超大樣品艙設計，針對較薄而復雜的樣品，具有的解決方案。MAXXI6可分析固體和液體，元素范圍包括從元素周期表中的13Al到92U。

      MAXXI6在五金電鍍行業、RoHS/WEEE/ELV一致性檢驗、電子行業、金屬合金行業、能源行業等都表現出了的成分分析能力，可進行多鍍層厚度的測量。無論您是用于電路板、電子元件或批量零件的鍍層厚度測量，還是用于貴金屬鍍層厚度測量，如銀層測厚、金層測厚、鉻層測厚等，我們相信MAXXI6都將會為您提供理想的解決方案。

      MAXXI6的表現：

      lzui多同時測定5層，15種元素及共存元素的校正

      l同時實現多于25種元素的定量分析

      l德國制造，符合zui高工程標準，堅固耐用的設計可實現長期可靠性

      l通過PTB（Physikalisch Technische Bundesanstalt）認證，滿足zui高輻射安全標準

      MAXXI6的操作非常簡單，三步即可完成：

      1.將樣品放在大樣品臺上

      2.選擇樣品測量點

      3.點擊開始

      牛津儀器Roentgen analytik GmbH的服務及臺式X熒光設備總NEUHAUSENOlaf說：“我們一直致力于研發而又簡單易用的鍍層測厚儀，而MAXXI6正好滿足了這兩項要求，目前市場上還沒有產品能夠達到這個標準。