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精益求精不斷創新 真理光學出席57屆高博會
2022年08月05日 17:14:51
來源：化工儀器網 作者：楊 點擊量：5292
珠海真理光學儀器有限公司(以下簡稱：真理光學)技術團隊具有超過二十年粒度表征及應用的研究和開發經驗，曾研發出中國第一臺商用激光粒度分析儀，在全球享有很高的聲譽。
【化工儀器網 展會報道】為深入貫徹落實2022年全國教育工作會議精神，落實立德樹人根本任務，立足國家戰略需求，服務高質量教育體系建設，服務高校教育教學改革和科技創新，服務人才培養和教師發展，服務產教融合、校企合作，推進高等教育裝備現代化，第五十七屆中國高等教育博覽會(以下簡稱“高博會”)于8月4日在西安國際會展中心盛大開幕。本屆高博會為期3天，開設六大展區，千余家企業高校共赴盛會。作為一家專注于顆粒表征和分析儀器的研發和生產的技術型企業，珠海真理光學儀器有限公司也獲邀出席。
真理光學展會現場
珠海真理光學儀器有限公司(以下簡稱：真理光學)技術團隊具有超過二十年粒度表征及應用的研究和開發經驗，曾研發出中國第一臺商用激光粒度分析儀，在全球享有很高的聲譽。公司聚集了多位在顆粒學和粉體技術領域具有豐富經驗和工作成就的精英人才，其涵蓋顆粒表征技術的基礎理論研究、應用技術開發、產品制造、技術支持和商業運營服務。本次展會上，真理光學的主推產品為：LT3600系列全自動干濕法激光粒度分析儀與Nanolink SZ901納米粒度及Zeta電位分析儀。
LT3600系列全自動干濕法激光粒度分析儀
LT3600系列全自動干濕法激光粒度分析儀
LT3600是真理光學基于多年的科研成果開發的新一代超高速智能激光粒度分析系統，其多項技術性能和指標均突破了市場上現有的激光粒度儀的局限性和瓶頸，成為當今粒度儀市場具有里程碑意義的產品。
LT3600加持了偏振濾波技術、 衍射愛里斑反常變化(ACAD)的補償修正技術、格柵式超大角檢測技術、粒度分析模式優化及自適應技術、雙驅動進樣分散集成技術等多項創新和專利技術，可用于磨料、制藥、化工、電池材料、地質、水文等行業的顆粒粒度表征分析。
Nanolink SZ901納米粒度及Zeta電位分析儀
Nanolink SZ901納米粒度及Zeta電位分析儀
Nanolink SZ901系列是真理光學在SZ900基礎上基于多年的科研成果開發的新一代納米粒度和Zeta電位分析系統，采用動態光散射(DLS)和電泳光散射(ELS)原理分別進行納米粒度測量和Zeta電位分析。
Nanolink SZ901的杰出性能和主要特點包括：
◆ 經典90°動態光散射技術測量粒徑，測量范圍覆蓋0.3nm – 15μm
◆ 激光多普勒電泳技術用于Zeta電位分析，可準確預知分散體系的穩定性及顆粒團聚的傾向性
◆ 加持自動恒溫技術的最高功率可達50mW, 波長638nm的固體激光光源，儀器即開即用
◆ 獨創的余弦擬合法(CFLS)優于目前的頻譜分析法(FFT)和位相分析法(PALS)
◆ 獨創的激光光源與照明光及參考光的一體化及光纖分束技術
◆ 獨創的信號光與參考光的光纖合束及干涉技術
◆ 集成光纖技術的高靈敏度和極低暗電流(20cps)的光子檢測器
◆ 常規溫度控制范圍可達0°C - 90°C, 最高可選120°C, 精度±0.1°C
◆ 新一代高速數字相關器，動態范圍大于10¹¹
◆ 冷凝控制 – 干燥氣體吹掃技術
真理光學始終致力于為客戶提供全面的顆粒表征儀器和應用技術方案。從納米到微米，從固體顆粒到乳液、噴霧，每一個產品從基礎理論研究到技術創新、從質量管控到客戶服務，真理光學都以其精益求精的態度追求細節之處。相信真理光學憑借創新能力與精益求精的工匠精神，能夠在未來的發展道路上取得更好的成績！
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