MDPinline ingot-在線硅錠成像設(shè)備
2025-08-05
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各種不同的樣品，從單晶硅到多晶硅，從生長的晶片到加工過的晶片，都可以通過MDPlinescan使用少子壽命測量進(jìn)行檢測。硬件系統(tǒng)被靈活地安裝來執(zhí)行樣本的逐行掃描。該軟件接口便于與處理系統(tǒng)或自動(dòng)化系統(tǒng)進(jìn)行簡單的連接和通信。
MDPlinescan被設(shè)計(jì)成一個(gè)易于集成的OEM單元，用于集成到各種自動(dòng)化檢測上。關(guān)鍵測量是少子壽命掃描。樣品通常由測量探頭下面的傳送帶或機(jī)器人系統(tǒng)傳送。應(yīng)用實(shí)例范圍從磚塊到晶片檢查，測量速度小于每晶片一秒。電池生產(chǎn)線的進(jìn)料質(zhì)量調(diào)查是常見的應(yīng)用案例，以及在鈍化和擴(kuò)散之后的工藝質(zhì)量檢查，在許多其他的專業(yè)應(yīng)用領(lǐng)域也有很大的可能性。只需要集成以太網(wǎng)連接和電源就可以了。包括附加電阻率測量選項(xiàng)。
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