二手日本電子（SEM）IT-300產(chǎn)品參數(shù)

日本電子掃描電鏡JSM-IT300

二手日本電子（SEM）IT-300電子光學(xué)系統(tǒng)的高質(zhì)量成像

JSM-IT300 提供高畫(huà)質(zhì)圖像，能滿足您對(duì) W-SEM 機(jī)型的期待，鏡筒設(shè)計(jì)和掃描系統(tǒng)使得不導(dǎo)電樣品的圖像質(zhì)量有所提高

二次電子像

通過(guò)高真空二次電子像觀察到的蝴蝶鱗粉。可以用更高的分辨率觀察微觀結(jié)構(gòu)。

背散射電子像

通過(guò)在低加速電壓下觀察背散射電子成份像，能觀察到每個(gè)碳化鎢顆粒的通道襯度。

掃描系統(tǒng)使低加速電壓下的圖像質(zhì)量更高

幀累積法能制止荷電效應(yīng)，對(duì)易充電的樣品可以輕松地進(jìn)行觀察。

掃描方式能減輕樣品的帶電，不易受到樣品漂移的影響，即使是容易充電的樣品，能在高倍率下的得到高清的圖像質(zhì)量

低真空模式

差動(dòng)抽氣系統(tǒng)

差動(dòng)抽氣系統(tǒng)提高了低真空模式下的圖像質(zhì)量，此外，低真空模式的至大

壓力可高達(dá) 650Pa，進(jìn)一步擴(kuò)大了應(yīng)用范圍。

低真空擴(kuò)展了壓力 ：高達(dá) 650Pa

含有大量水分的軟樣品可能會(huì)由于樣品室內(nèi)的壓力而無(wú)法保持原有的結(jié)構(gòu)，這樣的

樣品不進(jìn)行特殊處理就無(wú)法觀察。但低真空壓力范圍擴(kuò)展到 650 Pa 就可以進(jìn)行觀

察，即使沒(méi)有特殊處理對(duì)樣品的損傷也很小。

低真空二次電子像

即使是低真空模式下，通過(guò)低真空二次電子像也能清晰地觀察有機(jī)材料的表面細(xì)節(jié)。

EDS 集成化 EDS 一觸式分析

JSM-IT300A/LA

JEOL 是世界上一家集開(kāi)發(fā)、制造和銷售于一身的 SEM 和 EDS 制造商。在觀察和分析過(guò)程中，輕觸屏幕即可進(jìn)行分析。

一觸式分析

在 SEM 的操作界面上，只需輕觸圖標(biāo)就可以執(zhí)行基本的分析功能。JEOL 的 SEM 和 EDS 一體化集成，提高了通量和易用性。

基本的分析操作，在 SEM 的 GUI 上一觸即成。

在 SEM 的 GUI 上，輕觸屏幕即可執(zhí)行基本的分析操作。