原位X射線衍射儀檢測
2025-05-20
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原位X射線衍射儀檢測
| 項目 | 細則 | 收費 | 說明 |
| 2Theta/Omega、 XRR、GID | 薄膜樣品：每樣品測試不超 過 30 min；掃描時間大于 30min，延長時間按240 元/30min收費，不足30min 按 30min 計 | / | 1.長時間數(shù)據(jù)手機（大于5h）、復(fù)雜樣品等特殊測試，價格需面議； 2.原位測試需提供測試方法 |
| 高溫測試 | 室溫至 1100℃，包含 2 個溫 度點，第二點后， 240元/測 試點 (校外 240 元/測試點) | / | |
| 中低溫測試 | -180 至 450℃，多溫度點測試 時第三個溫度起，以 240 元/ 測試點計，低溫測試液氮另加 30 元/時 | / | |
| 低溫測試 | 溫度起點低于-180℃，低至 12K，多溫度點測試時第三個 溫度起，以 240元/測試點計 | / | |
| 電池充放電測試 | 變溫范圍：-25℃~+80℃， Peltier 變溫，包含 2 個測試 點，第二點后， 240 元/測試點 | / | |
| 原位電化學(xué)測試 | 包含 2 個測試點，第二測試點 以后， 240 元/測試點 | / |
原位X射線衍射儀檢測.
儀器功能特點：
1- 高效的6KW TXS-HE轉(zhuǎn)靶光源，強度是封閉靶的5倍；
2- 入射光路三光路自動切換系統(tǒng)：粉末衍射聚焦光路、薄膜反射、掠入射平行光路；高分辨光路：高分辨毛細管透射、反射、外延薄膜高分辨；
3- 探測器的開口大，適合測試速度快原位；配置準(zhǔn)直器后開展二維衍射實時分析，還原原位二維信息；配備的高低溫系統(tǒng)可實時檢測反應(yīng)中結(jié)構(gòu)的演變過程；
4- 原位充放電、原位電化學(xué)附件更是快速準(zhǔn)確地追溯揭示了phase transformation過程。
應(yīng)用范圍：
原位高低溫附件可以在材料合成過程中來觀察材料結(jié)構(gòu)變化，探索材料合成條件；也可以用來探測充放電到某個電位下材料隨溫度變換而產(chǎn)生的相應(yīng)的結(jié)構(gòu)變化，這對探討實際電池安全性產(chǎn)生的原因之一，即材料結(jié)構(gòu)變化引起的安全問題是一種重要的手段；
科研支撐
變溫物相分析
變溫過程中的晶粒尺寸、晶型、晶胞參數(shù)及動力學(xué)分析
分析、電池充放電物相分析、原位電化學(xué)反應(yīng)物相分析。
產(chǎn)業(yè)支撐
藥物作用機理及動力學(xué)分析、藥物理化性質(zhì)及穩(wěn)定性分析。
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