DECTRIS EIGER2 R CdTe光子計數X射線探測器
1、產品特點：
EIGER2 R CdTe 1M X 射線探測器將混合像素光子計數探測器的新發展和碲化鎘感光像素的高量子效率集合在一起。對于使用高能量 X 射線源或需要雙閾值設置時， EIGER2 R CdTe 1M 是好的選擇。
DECTRIS 公司的即時觸發技術使他們具有高計數率能力，可以更好地測量實驗室X射線源 所能達到的高強度。DECTRIS 公司的即時觸發的技術使 EIGER2 R CdTe 1M 探測器具有好的高計 數率能力，可以更快速地測量實驗室 X 射線光源所能達到的高強度。EIGER2 R CdTe 1M 探測器具有兩個能 量閾值，所以與上一代探測器相比，它在環境背景下擁有更低的暗電流和背景噪音。這大大提高了弱信號和長 時間曝光的信噪比，使得它在更短的測量時間下就能獲得更好的數據質量。單光子計數與計數器連續讀/寫技術 相結合，克服了傳統積分探測器容易飽和以及動態范圍有限的問題。此外，感光像素直接將X射線轉化為電信號 配合小到 75μm 的像素尺寸使得探測器具有更高的空間和角度分辨率。
2、核心優勢：
– 高的量子效率、更短的測試時間和更高質量的數據
– 即時觸發技術使得計數率大幅度提高
– 雙能閾值，可用于低背景和高背景的抑制
– 無讀出噪音和暗電流，確保了好的信噪比
– 計數器具有同時讀/寫功能，確保了高動態范圍和無飽和的圖像
3、應用領域：
- 大分子晶體學（MX）；
- 化學結晶學；
- 小角X射線散射和廣角X射線散射(SAXS/WAXS）；
- μCT；
- 其它；
DECTRIS EIGER2 R CdTe光子計數X射線探測器
4、技術參數：
EIGER2 R CdTe | 500K | 1M | 4M |
探測器模塊數量 | 1 | 1 x 2 | 2 x 4 |
有效面積：寬x高 [mm2] | 77.1 x 38.4 | 77.1 x 79.7 | 155.1 X 162.2 |
像素大小 [μm2] | 75 x 75 | ||
點擴散函數 | 1 pixel | ||
能量閾值 | 2 | ||
能量范圍[KeV] | 8-24.2 | ||
閾值范圍[KeV] | 4-30 | ||
大計數率（cps/mm2） | 9.8×108 | ||
計數器深度（bit/threshold） | 2×16 | ||
采集模式 | 同時讀/寫，死區時間為零 | ||
圖像位深度（bit） | 32 | ||
可選真空兼容 | Yes | ||
冷卻方式 | 水冷 | ||
尺寸（WHD）[mm3] | 114 x 92 x 242 | 114 x 133 x 242 | 235 x 237 x 372 |
重量 [kg] | 3.7 | 3.9 | 15 |
EIGER2 R CdTe混合像素光子計數X射線探測器
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