深圳N8973A噪聲系數(shù)分析儀
| 參考價(jià) | ￥ 2500 |
| 訂貨量 | ≥1臺(tái) |
- 公司名稱 深圳市超利電子科技有限公司
- 品牌 Agilent/安捷倫
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地 美國(guó)
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2022/12/2 17:15:39
- 訪問次數(shù) 257
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二手頻譜分析儀，信號(hào)源，網(wǎng)絡(luò)分析儀，示波器，無線電綜合測(cè)試儀，音頻分析儀,噪聲系數(shù)分析儀，WIFI測(cè)試儀，手機(jī)綜合測(cè)試儀，EMI測(cè)試儀，天饋線分析儀，功率計(jì)，頻率計(jì)，校準(zhǔn)件，函數(shù)信號(hào)發(fā)生器，電源，GPIB卡，萬用表，衰減器等測(cè)試儀器
| 保修期限 | 6個(gè)月 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)品成色 | 8成新 | 出廠年份 | 2007 |
| 使用年限 | 7年以上 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 生物產(chǎn)業(yè),電子/電池,航空航天,汽車及零部件,綜合 |
| 噪聲系數(shù)分析儀 | N8973A |
N8973A
Agilent | N8973A 噪聲系數(shù)測(cè)試儀|安捷倫|噪聲系數(shù)分析儀|10MHz至3GHz
品牌:美國(guó)安捷倫 Agilent | 美國(guó)惠普 HP
詳細(xì)介紹
簡(jiǎn)便的測(cè)量設(shè)置
低的儀器不確定度
用彩色圖形顯示噪聲系統(tǒng)和增益頻率變化的關(guān)系曲線
加強(qiáng)了與PC機(jī)和打印機(jī)的連通性
能與Agilent346和347噪聲源配用
能經(jīng)軟盤調(diào)入儲(chǔ)存噪聲源的超噪聲比（ENR數(shù)據(jù)）
能經(jīng)第二個(gè)專用GPIB對(duì)本振進(jìn)行控制
靈活而直觀的用戶界面
新推出的NFA系列噪聲系數(shù)分析儀上的用戶界面既直觀又便于使用，所用按鍵按順序和功能相互分類排列，因而易于查找。專用功能的層數(shù)被盡可能削減，并在屏幕上提供顯示儀器當(dāng)前狀態(tài)的清晰視覺指示。
如今，NFA系列噪聲系數(shù)分析儀設(shè)法用其簡(jiǎn)單但富有啟發(fā)性的菜單來取代復(fù)雜的測(cè)量設(shè)置。內(nèi)置幫助按鍵可以提供關(guān)鍵功能和遠(yuǎn)程編程命令，從而在進(jìn)行測(cè)量時(shí)無需攜帶操作手冊(cè)。
低的儀器不確定度
進(jìn)行噪聲系數(shù)測(cè)量時(shí)，應(yīng)當(dāng)知道的一個(gè)關(guān)鍵參數(shù)是測(cè)量的不確定度。NFA系列噪聲系數(shù)測(cè)試儀具有低的儀器不確定度，這有助于制造商對(duì)元件進(jìn)行精確、重復(fù)的測(cè)量。此外，為了幫助用戶規(guī)定其元件和系統(tǒng)的技術(shù)指標(biāo)，Agilent公司還生產(chǎn)了一種基于網(wǎng)絡(luò)的不確定度計(jì)算器，可以向用戶提供對(duì)他們的測(cè)量指標(biāo)如何改善和更準(zhǔn)確地進(jìn)行分類的信息。 提高批量測(cè)量的效率
信號(hào)發(fā)生器或信號(hào)源
按頻率分類：
3G信號(hào)源:agilent E4421B,agilent E4432B,Agilent E4436B,R&S sme03,R&S smiq03,R&S smt03,R&S smV03,R&S SMU200A,
6G信號(hào)源:HP8665B,agilent E4438C,Agilent E4432B,Agilent N5182B,Agilent N5182A,R&S SMW200A,R&S SMBV100A,Agilent N5172B,Agilent N5171B
高頻信號(hào)源：Agilent N5183B，Agilent N5183A,Agilent E8257D,Agilent E8247C,Agilent E8267D,Agilent N5173B
在制造環(huán)境中，快速測(cè)量和重復(fù)性是決定性的因素。目前，NFA系列噪聲系數(shù)分析儀具有許多能縮短測(cè)量時(shí)間和提高批量測(cè)量效率的特點(diǎn)。頻率列表功能能使您在進(jìn)行測(cè)量的整個(gè)測(cè)量頻率間隔內(nèi)選擇一些特殊的頻率點(diǎn)。掃描取平均功能能夠在掃描期間伴隨著對(duì)被測(cè)件性能的調(diào)整對(duì)屏幕進(jìn)行實(shí)時(shí)更新，這兩種功能以及進(jìn)行快速、方便合格/不合格測(cè)試的極限線功能和調(diào)用全面已校儀器狀態(tài)的附加功能都能提高批量測(cè)量的效率。
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