表面磁光克爾效應實驗系統. 在 1845年，Michael Faraday發現了磁光效應，他發現當外加磁場加在玻璃樣品上時，透射光的偏振面將發生旋轉的效應，隨后他在外加磁場之金屬表面上做光反射的實驗
表面磁光克爾效應實驗系統. 型號；MHY-23030
表面磁光克爾效應實驗系統. 在 1845年，Michael Faraday發現了磁光效應，他發現當外
加磁場加在玻璃樣品上時，透射光的偏振面將發生旋轉的效應，隨后他在外加磁場之金屬表面
上做光反射的實驗，但由于他所謂的表面并不夠平整，因而實驗結果不能使人信服。1877年
John Kerr在觀察偏振化光從拋光過的電磁鐵磁反射出來時，發現了磁光克爾效應
(magneto-optic Kerr effect)。1985年Moog和Bader兩位學者行鐵薄膜磊晶成長在金單晶
(100)面上的磁光克爾效應量做實驗，成地得到原子層厚度磁性物質之磁滯回線，并且提
出了以SMOKE來作為表面磁光克爾效應 (surface magneto-optic Kerr effect)的縮寫，用以
表示應用磁光克爾效應在表面磁學上的研究。由于此方法之磁性解析靈敏度達原子層厚度，
且儀器配置合于真空系統之作，因而成為表面磁學的重要研究方法。
它在磁性薄膜的磁有序、磁各向異性、層間耦合和磁性薄膜的相變行為等方面的研究
中都有重要應用。應用該系統可以自動掃描磁性樣品的磁滯回線，從而獲得薄膜樣品矯頑力、
磁各異性等方面的信息。另外，該系統可以和真空系統相連，對磁性薄膜和薄膜行原
位測量。
主要參數：
1．半導體激光器 波長 650nm 輸出率 2mW
2．偏振棱鏡 格蘭－湯普遜棱鏡 通光孔徑 8mm 消光比10 －5 主透射比90％
3．電磁磁鐵 中心zui大磁感應強度0.3T 磁間隙 30mm
4．恒電源 zui大電壓 38V zui大輸出電 10A
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