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日立分析儀器(上海)有限公司

選擇LAB-X5000進行離型膜質量控制的5大原因

時間:2018-12-11 閱讀:354
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測量離型膜上的硅涂布量是生產過程中質量控制的一個重要方面。如果涂覆的硅太少,則粘合層將地粘在基底上,而涂覆過多則會增加生產成本,且不會進一步提高產品質量。為了控制硅涂層厚度,行業通常使用臺式X射線熒光(XRF)分析儀,例如,日立LAB-X5000,因為這些分析儀可提供經濟、、可靠的無損分析。使用這些分析儀,操作員可快速調整生產過程,并有助于降低材料成本,同時大限度地提高產量。

 

LAB-X5000的五大優勢:

1.方便:一次校準即可適用于所有紙張類型

使用LAB-X5000,可將玻璃紙校準用于其他紙張類型,包括粘土涂層紙張,而不會有損度。在用標準玻璃紙進行單次校準后,當移動到新的紙張類型(或新的紙卷)時,您只需測量新類型紙張的“空白”無涂層。測量涂層樣品以及對新基底進行自動補償時,XRF設備使用這一測量值作為“校正因子”。

2.具有成本效益:無需氦氣

XRF設備通常使用氦氣來確保測量硅(Si)等輕元素的穩定性。LAB-X5000包含智能功能,可自動補償大氣溫度和壓力的變化(否則會影響結果),并提供可靠結果,*不需要氦氣。這意味著獲得、儲存和使用氦氣的成本和困難*消除。

3.可靠結果:自動針對潛在不均勻涂層表面獲得平均結果

硅層涂覆工藝并非100%,并且可能出現涂層紙張上硅厚度的微小變化。此外,XRF分析儀通常只測量紙張樣品上一小部分區域,這種微小變化可能會呈現測試結果的差異。LAB-X5000配備有樣品自旋器,該自旋器在X射線管和探測器上方旋轉樣品,以測試更寬的區域并獲得平均讀數。無論樣品在分析儀中的位置如何,操作員都能就該樣品獲得相同的結果。

4.設計:堅固、快速且易于使用

本設備尺寸小巧,可以安裝在工作臺上,并且堅固耐用,能夠承受典型的生產環境,從而大限度地延長正常運行時間。少的操作員培訓:只需使用所提供的盤形銑刀即可制備樣品。操作員只需將紙盤放入支架中,并將支架放入分析儀,然后按下啟動按鈕。屏幕上會在數秒內顯示初始結果。此外,也可以顯示合格和不合格消息,從而消除了操作員解釋結果的需要。測量完成后,設備發出蜂鳴聲,提醒操作員設備已準備好測量下一份樣品。

5.強大的數據管理

LAB-X5000能夠儲存多100,000條測量結果(以及相關光譜)。您可以在集成打印機上打印結果,或者將結果傳輸到USB存儲裝置。此外,還可以通過Wi-Fi將結果自動傳輸到我們的ExTOPE Connect云服務,并通過任何計算機實時管理數據。無需靠近分析儀即可查看結果,并創建和共享結果。甚至可以通過一個云賬戶訪問來自多個日立分析儀的數據,從而全面了解您的測試操作。

 

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