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X射線熒光光譜儀特點
具有更高能量分辨率的硅片檢測器提高了光元件的檢測限，比Si引腳檢測器高出100倍。測量范圍更廣，幾乎可以滿足所有常規材料的元素分析要求。
數據集成處理系統使數據采集速度更快，測量更穩定，重復性好，長時間穩定。
集成多個圖像計算機化方法的軟件使得數據測量更加準確和穩定。
軟件*監控核心零件運行，確保安全運行。
專業真空系統提供更好的真空性能和出色的測試結果。
X射線熒光光譜儀Spectra-4000規格
可測元素：Na-U
元素含量：1ppm-99.99％
檢測限：1ppm
測量時間：60-200s（可調）
能量分辨率：129±5eV
X射線管較大輸出電流：1mA
極限壓力：6.7×10-2 Pa
樣品室尺寸：610 * 320 * 100（mm）（無真空）/Φ100* h75（mm）（真空）
長期工作穩定性（標準樣品）：±0.05％（高含量）/協調0.002％（微量）
優異的重復性（標準樣品）：0.06％（（高含量）/協和0.0025％（微量）
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