您好, 歡迎來(lái)到化工儀器網(wǎng)
產(chǎn)品分類品牌分類
-
超聲波探傷標(biāo)準(zhǔn)試塊 著色滲透探傷劑/顯像劑/滲透劑/清洗劑 磁粉檢測(cè)試塊/磁粉探傷試塊 磁粉探傷耗材 移動(dòng)式磁粉探傷儀 多用磁粉探傷儀 磁粉磁軛探傷儀/磁探儀 X射線報(bào)警儀/個(gè)人計(jì)量?jī)x 暗室紅燈/三色燈/警告燈 超聲波探傷儀/測(cè)厚儀 退磁機(jī)/線圈退磁器 冷熱觀片燈/工業(yè)評(píng)片燈 強(qiáng)度計(jì)/特斯拉計(jì)/高斯計(jì) 數(shù)顯黑白密度計(jì)/密度片 超聲波探傷耗材 射線探傷耗材 磁粉、磁膏、磁懸液 高強(qiáng)度紫外線燈 熒光探傷燈 紫外線黑光燈/LED黑光燈/熒光探傷燈 工業(yè)X光膠片 JB行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試塊 GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)試塊 CSK-IA超聲波試塊 焊縫自然缺陷試塊 超聲波檢測(cè)試塊 *標(biāo)準(zhǔn)試塊與其他*標(biāo)準(zhǔn)試塊 工業(yè)恒溫洗片機(jī)、干片機(jī) 進(jìn)口 超聲波耦合劑 其它
鏡臺(tái)測(cè)微尺/物鏡/目鏡尺
閱讀：4282 發(fā)布時(shí)間：2009-2-9
鏡臺(tái)測(cè)微尺（Stage Graticules）
產(chǎn)品由上海越磁電子科技有限公司現(xiàn)貨供應(yīng)
一、標(biāo)準(zhǔn)型
鋁質(zhì)機(jī)座，
玻片尺寸：75mm x 24mm x 2mm
透射照明型
這種測(cè)微計(jì)本身受到一個(gè)微型防護(hù)玻璃罩保護(hù)，防護(hù)玻璃罩對(duì)應(yīng)于樣品替代的位置。大多數(shù)顯微鏡通過(guò)透射光的玻璃防護(hù)罩檢測(cè)樣品進(jìn)行校準(zhǔn)。校準(zhǔn)距離長(zhǎng)度為1.0mm。
反射照明型
我們建議這種產(chǎn)品用于金相光學(xué)顯微鏡。因?yàn)榇蠖鄶?shù)金相學(xué)樣品不使用玻璃防護(hù)罩進(jìn)行檢測(cè)，而這種鏡臺(tái)測(cè)微計(jì)沒(méi)有防護(hù)罩。因此人們也考慮發(fā)生偶然事故時(shí)儀器表面的保護(hù)。校準(zhǔn)距離長(zhǎng)度為1.0mm
這種測(cè)微計(jì)本身受到一個(gè)微型防護(hù)玻璃罩保護(hù)，防護(hù)玻璃罩對(duì)應(yīng)于樣品替代的位置。大多數(shù)顯微鏡通過(guò)透射光的玻璃防護(hù)罩檢測(cè)樣品進(jìn)行校準(zhǔn)。校準(zhǔn)距離長(zhǎng)度為1.0mm。
反射照明型
我們建議這種產(chǎn)品用于金相光學(xué)顯微鏡。因?yàn)榇蠖鄶?shù)金相學(xué)樣品不使用玻璃防護(hù)罩進(jìn)行檢測(cè)，而這種鏡臺(tái)測(cè)微計(jì)沒(méi)有防護(hù)罩。因此人們也考慮發(fā)生偶然事故時(shí)儀器表面的保護(hù)。校準(zhǔn)距離長(zhǎng)度為1.0mm
二、認(rèn)證型
PS型號(hào)的鏡臺(tái)測(cè)微尺每一個(gè)都是有認(rèn)證證書(shū)的，經(jīng)過(guò)英國(guó)國(guó)家物理實(shí)驗(yàn)室（NPL）或英國(guó)*認(rèn)證委員會(huì)（UKAS）鑒定的。適合于光學(xué)測(cè)量?jī)x器的校準(zhǔn)，適用于所有的光學(xué)顯微鏡；其外的不銹鋼框架，可以保證更高的精度和更長(zhǎng)的壽命。保存于木質(zhì)盒內(nèi)。
透射照明型
這種測(cè)微計(jì)本身受到一個(gè)微型防護(hù)玻璃罩保護(hù)，防護(hù)玻璃罩對(duì)應(yīng)于樣品替代的位置。大多數(shù)顯微鏡通過(guò)透射光的玻璃防護(hù)罩檢測(cè)樣品進(jìn)行校準(zhǔn)。校準(zhǔn)距離長(zhǎng)度為1.0mm。
反射照明型
我們建議這種產(chǎn)品用于金相光學(xué)顯微鏡。因?yàn)榇蠖鄶?shù)金相學(xué)樣品不使用玻璃防護(hù)罩進(jìn)行檢測(cè)，而這種鏡臺(tái)測(cè)微計(jì)沒(méi)有防護(hù)罩。因此人們也考慮發(fā)生偶然事故時(shí)儀器表面的保護(hù)。校準(zhǔn)距離長(zhǎng)度為1.0mm
這種測(cè)微計(jì)本身受到一個(gè)微型防護(hù)玻璃罩保護(hù)，防護(hù)玻璃罩對(duì)應(yīng)于樣品替代的位置。大多數(shù)顯微鏡通過(guò)透射光的玻璃防護(hù)罩檢測(cè)樣品進(jìn)行校準(zhǔn)。校準(zhǔn)距離長(zhǎng)度為1.0mm。
反射照明型
我們建議這種產(chǎn)品用于金相光學(xué)顯微鏡。因?yàn)榇蠖鄶?shù)金相學(xué)樣品不使用玻璃防護(hù)罩進(jìn)行檢測(cè)，而這種鏡臺(tái)測(cè)微計(jì)沒(méi)有防護(hù)罩。因此人們也考慮發(fā)生偶然事故時(shí)儀器表面的保護(hù)。校準(zhǔn)距離長(zhǎng)度為1.0mm
小常識(shí)：
顯微鏡測(cè)微尺（Microscope Graticules）主要分為兩種：目鏡測(cè)微尺（目微尺，Eyepiece Graticules）和鏡臺(tái)測(cè)微尺（載臺(tái)測(cè)微尺，臺(tái)測(cè)微尺，Stage Graticules）。
鏡臺(tái)測(cè)微尺，它的外形和載玻片相似,*部分印有一條微細(xì)的標(biāo)尺,標(biāo)尺全長(zhǎng)1mm分*格,每一大格又分成10小格,因此每小格的長(zhǎng)度是0.01mm即10μ.標(biāo)尺的外圍有一黑色的小圓環(huán),以便在顯微鏡下尋找標(biāo)尺的位置.標(biāo)尺上面往往附有一個(gè)圓形的蓋玻片以資保護(hù).也有的標(biāo)尺*格中僅*大格分成10小格的.還有的標(biāo)尺全長(zhǎng)2mm分成20大格,其中僅*大格分成10小格的.鏡臺(tái)測(cè)微尺是顯微長(zhǎng)度測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn),它并不直接用來(lái)測(cè)量物體的長(zhǎng)度,而是用來(lái)校正目鏡測(cè)微尺和其它有關(guān)的測(cè)量工具的,它的質(zhì)量好壞對(duì)各種顯微測(cè)量以及顯微繪畫(huà)放大倍率的計(jì)算等都有很大的關(guān)系.因此,應(yīng)選擇刻度線條纖細(xì),均勻而清晰的,長(zhǎng)度準(zhǔn)確性可靠的進(jìn)行核對(duì)。
目鏡測(cè)微尺，簡(jiǎn)稱目微尺，它是放在目鏡內(nèi)的標(biāo)尺，是一個(gè)圓形的小玻片，外型類似于圓形蓋玻片，較蓋玻片稍厚。目鏡測(cè)微尺以免印有標(biāo)尺，一般1cm分為100個(gè)小格，也有全長(zhǎng)5mm分為50個(gè)小格的。使用時(shí)，擰開(kāi)目鏡的上透鏡，把測(cè)微尺輕輕放在中部的環(huán)形光闌上，注意有刻度的面朝下（避免標(biāo)尺數(shù)字讀起來(lái)是反的）。
目鏡測(cè)微尺是直接來(lái)測(cè)量物體的長(zhǎng)度的，但是它的刻度所代表的長(zhǎng)度依著顯微鏡的放大輩數(shù)而改變的。因此使用目鏡測(cè)微尺前必須用臺(tái)測(cè)微尺來(lái)進(jìn)行校正，以確定目鏡測(cè)微尺上的每一小格所代表的實(shí)際長(zhǎng)度。
校正的方法是將目微尺放入目鏡內(nèi),插入境筒,必要時(shí)轉(zhuǎn)動(dòng)目鏡上透鏡,至能清楚地看到標(biāo)尺為止,再將臺(tái)微尺放在鏡臺(tái)上,用低倍鏡找到臺(tái)微尺的刻度并適當(dāng)調(diào)焦到能同時(shí)看清目微尺和臺(tái)微尺的刻度.轉(zhuǎn)動(dòng)目鏡使兩種標(biāo)尺相互平行.再移動(dòng)臺(tái)微尺,使位于目微尺的稍下方,并使兩種標(biāo)尺的一端刻線互相對(duì)齊并重疊,然后觀察并記錄臺(tái)微尺的另一端與目微尺另一端那一根刻度對(duì)其并重疊,數(shù)一數(shù)兩者對(duì)其后各自的個(gè)數(shù)并計(jì)算.例如:假設(shè)在用6×目鏡和10×物鏡,鏡筒不伸長(zhǎng)時(shí),目微尺和臺(tái)微尺對(duì)齊后,看到臺(tái)微尺100小格=目微尺60小格,又知臺(tái)微尺100小格=1000μ,側(cè)目微尺一小格所代表的長(zhǎng)度（校正值）=1000÷60=16.7μ.。使用40×物鏡,其余不變,此時(shí)由于放大倍數(shù)的增加,視野縮小,只能看到臺(tái)微尺的一部分.對(duì)齊后看到目微尺100小格=臺(tái)微尺38小格即380μ,此種情況下目微尺一小格所代表的長(zhǎng)度（校正值）=380μ÷100=3.8μ.
進(jìn)行校正時(shí),如果一根標(biāo)尺的末端刻線與另一根標(biāo)尺的刻線不對(duì)齊重疊,可改變鏡筒長(zhǎng)度 使之對(duì)齊重疊.如筒長(zhǎng)不能改變,則可在標(biāo)尺末端刻線附近尋找另一對(duì)互相重疊的刻線,如前記錄并計(jì)算。
,
| C系列顯微鏡用測(cè)微尺 | |
| C7型0.1坐標(biāo)形目鏡測(cè)微尺10/100 | |
| C6 型0.2網(wǎng)形目鏡測(cè)微尺5/25 | |
| C5 型0.5網(wǎng)形目鏡測(cè)微尺5/10 | |
| C4 型0.05尺形目鏡測(cè)微尺5/100 | |
| C3 型0.1尺形目鏡測(cè)微尺5/50 | |
| C2 型（根下2的n次方）網(wǎng)形目鏡測(cè)微尺（根下2的n次方）×L/200 | |
| C1 型物鏡測(cè)微尺1/100 |