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產(chǎn)品分類品牌分類
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超聲波探傷標準試塊 著色滲透探傷劑/顯像劑/滲透劑/清洗劑 磁粉檢測試塊/磁粉探傷試塊 磁粉探傷耗材 多用磁粉探傷儀 移動式磁粉探傷儀 磁粉磁軛探傷儀/磁探儀 X射線報警儀/個人計量儀 暗室紅燈/三色燈/警告燈 超聲波探傷儀/測厚儀 退磁機/線圈退磁器 冷熱觀片燈/工業(yè)評片燈 強度計/特斯拉計/高斯計 數(shù)顯黑白密度計/密度片 超聲波探傷耗材 射線探傷耗材 磁粉、磁膏、磁懸液 熒光探傷燈 高強度紫外線燈 紫外線黑光燈/LED黑光燈/熒光探傷燈 工業(yè)X光膠片 JB行業(yè)標準試塊 GB國家標準試塊 焊縫自然缺陷試塊 CSK-IA超聲波試塊 超聲波檢測試塊 *標準試塊與其他*標準試塊 工業(yè)恒溫洗片機、干片機 進口 超聲波耦合劑 其它
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
CBII標準試塊：
中華人民共和國行業(yè)標準試塊 JB4730-2005
JB4730-2005
本部分適用于金屬材料制承壓設(shè)備用原材料、零部件和焊接接頭的超聲檢測，也適用于金屬材料制在用承壓設(shè)備的超聲檢測。與承壓設(shè)備有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)件的超聲檢測，也可參照本部分使用。
標準試塊是指部分規(guī)定的用于儀器探頭系統(tǒng)新能校準和檢測校準的試塊。標準試塊應(yīng)采用與被檢測工件相同或近似的材料制成。該材料用直探頭檢測時，不得有大于Φ2mm平底孔當量直徑的缺陷。
對比試塊是指用于檢測校準的試塊。對比試塊的外形尺寸應(yīng)能代表被檢工件的特征，試塊厚度應(yīng)與被檢工件的厚度相對應(yīng)。如果涉及到兩種或兩種以上不同厚度部件焊接接頭的檢測，試塊的厚度應(yīng)由其zui大厚度來確定。
| 板厚mm | 采用探頭 | 公稱頻率 | 探頭晶片尺寸 | |
| 雙晶直探頭 | 單晶直探頭 | |||
| 6-20 | 雙晶探頭 | 5MHZ | 晶片面積不小于150mm2 | - |
| ＞20-250 | 單晶探頭 | 2.5MHZ | - | 圓晶片直徑為14-5mm或方晶片面積不小于200mm2 |
CBII標準試塊
適用于板厚6-250mm的碳素鋼、低合金鋼制承壓設(shè)備用板材的超聲檢測和質(zhì)量分級。
奧氏體鋼板材、鎳及鎳合金板材以及雙向不銹鋼板材的超聲檢測也可參照本章執(zhí)行。用雙晶直探頭檢測厚度不大于20mm的剛板時，采用如圖CBI標準試塊圖，用單晶直探頭檢測板厚大于20mm的鋼板時，CBII試塊應(yīng)符合表4-2的規(guī)定。試塊厚度應(yīng)與被檢測鋼板厚度相近。
CBII標準試塊
試塊編號 被檢鋼板厚度 檢測面刀平底孔德距離S 試塊厚度 1 ＞20～40 15 ≥20 2 ＞40～60 30 ≥40 3 ＞60～100 50 ≥65 4 ＞100～160 90 ≥110 5 ＞160～200 140 ≥170 6 ＞200～250 190 ≥220