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當(dāng)前位置：上海納騰儀器有限公司>>產(chǎn)品展示>>納米壓痕儀
Nano Indenter® G200原位納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)是一種準(zhǔn)確，靈活，使用方便的納米級(jí)機(jī)械測(cè)試儀器。 G200 測(cè)量楊氏模量和硬度，包括從納米到...
微納米壓痕儀（高溫）通過在真空環(huán)境中單加熱jian端和樣品來(lái)測(cè)量高溫下的硬度、模量和硬度。INSEM®HT與掃描電子顯微鏡（SEM）和聚焦離子束（FI...
TNI LF-2000原位自動(dòng)納米操作系統(tǒng)是目前市面上基于SEM電鏡下使用的高自動(dòng)化程度的納米操作系統(tǒng)，也是一種能夠在SEM電鏡下提供可重復(fù)定位、低漂移、閉環(huán)運(yùn)...
FT-NMT04納米力學(xué)性能測(cè)試系統(tǒng)是一種多功能的原位掃描電鏡/光纖納米壓頭，能夠準(zhǔn)確量化材料在微觀和納米尺度上的力學(xué)行為。
InSEM HT高溫原位納米壓痕儀（高溫）通過在真空環(huán)境中單加熱jian端和樣品來(lái)測(cè)量高溫下的硬度、模量和硬度。INSEM®HT與掃描電子顯微鏡（SE...
原位納米壓痕儀 SEM/AFM/LM NanoFlip產(chǎn)品既可以工作在真空環(huán)境下進(jìn)行各種原位力學(xué)測(cè)試；也可以直接在大氣環(huán)境下測(cè)試。本產(chǎn)品可進(jìn)行硬度和楊氏模量測(cè)試...
iNano高精度臺(tái)式納米壓痕儀是一種緊湊，用戶友好的納米機(jī)械測(cè)量系統(tǒng)，設(shè)計(jì)用于硬涂層，薄膜和少量材料。該系統(tǒng)旨在進(jìn)行準(zhǔn)確，可重復(fù)的納米級(jí)機(jī)械測(cè)試，包括壓痕，硬度...
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