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薄膜測厚儀產品特點
閱讀：423 發布時間：2019-7-8
薄膜測厚儀產品特點
采用進口傳感器，測厚分辨率高達0.1微米選用傳動元件，確保了試驗結果的穩定性與準確性。
大液晶屏顯示，操作簡便，配備微型打印機直接打印試驗報告。
另外具有電腦通信接口，通過選購軟件實現數據的存儲、查詢、打印；軟件功能強大，可將成組試驗數據用柱形圖或列表方式進行統計，試結報告可直接在局域網或廣域網中進行傳輸。
典型的基底材料為：
SiGe、GaAs、ZnS、ZnSe、鋁丙烯酸、藍寶石、玻璃、聚碳酸酯、聚合物、石英。
儀器具有開放性設計，儀器的光纖探頭可很方便地取出，通過儀器附帶的光纖適配器（如圖所示）連接到帶C-mount的顯微鏡（顯微鏡需另配），就可以使本測量儀適用于微區（>10μm，與顯微鏡放大率有關）薄膜厚度的測量。
強大的軟件功能：
界面友好，操作簡便，用戶點擊幾下鼠標就可以完成測量。便捷快速的保存、讀取測量得到的反射譜數據數據處理功能強大，可同時測量多達四層的薄膜的反射率數據。一次測量即可得到四層薄膜分別的厚度和光學常數等數據。材料庫中包含了大量常規的材的光學常數數據。用戶可以非常方便地自行擴充材料數據庫。
采用進口傳感器，測厚分辨率高達0.1微米選用傳動元件，確保了試驗結果的穩定性與準確性。
大液晶屏顯示，操作簡便，配備微型打印機直接打印試驗報告。
另外具有電腦通信接口，通過選購軟件實現數據的存儲、查詢、打印；軟件功能強大，可將成組試驗數據用柱形圖或列表方式進行統計，試結報告可直接在局域網或廣域網中進行傳輸。
典型的基底材料為：
SiGe、GaAs、ZnS、ZnSe、鋁丙烯酸、藍寶石、玻璃、聚碳酸酯、聚合物、石英。
儀器具有開放性設計，儀器的光纖探頭可很方便地取出，通過儀器附帶的光纖適配器（如圖所示）連接到帶C-mount的顯微鏡（顯微鏡需另配），就可以使本測量儀適用于微區（>10μm，與顯微鏡放大率有關）薄膜厚度的測量。
強大的軟件功能：
界面友好，操作簡便，用戶點擊幾下鼠標就可以完成測量。便捷快速的保存、讀取測量得到的反射譜數據數據處理功能強大，可同時測量多達四層的薄膜的反射率數據。一次測量即可得到四層薄膜分別的厚度和光學常數等數據。材料庫中包含了大量常規的材的光學常數數據。用戶可以非常方便地自行擴充材料數據庫。