您好, 歡迎來到化工儀器網
紅外光譜儀制樣方法
閱讀：3778 發布時間：2007-1-29
一、紅外光譜法對試樣的要求
紅外光譜的試樣可以是液體、固體或氣體，一般應要求：
（1）試樣應該是單一組份的純物質，純度應>98%或符合商業規格才便于與純物質的標準光譜進行對照。多組份試樣應在測定前盡量預先用分餾、萃取、重結晶或色譜法進行分離提純，否則各組份光譜相互重疊，難于判斷。
（2）試樣中不應含有游離水。水本身有紅外吸收，會嚴重干擾樣品譜，而且會侵蝕吸收池的鹽窗。
?。?）試樣的濃度和測試厚度應選擇適當，以使光譜圖中的大多數吸收峰的透射比處于10%~80%范圍內。
二、制樣的方法
1 .氣體樣品
氣態樣品可在玻璃氣槽內進行測定，它的兩端粘有紅外透光的NaCl或KBr窗片。先將氣槽抽真空，再將試樣注入。
2 . 液體和溶液試樣
?。?）液體池法
沸點較低，揮發性較大的試樣，可注入封閉液體池中，液層厚度一般為0.01~1mm。
（2）液膜法
沸點較高的試樣，直接直接滴在兩片鹽片之間，形成液膜。
對于一些吸收很強的液體，當用調整厚度的方法仍然得不到滿意的譜圖時，可用適當的溶劑配成稀溶液進行測定。一些固體也可以溶液的形式進行測定。常用的紅外光譜溶劑應在所測光譜區內本身沒有強烈的吸收，不侵蝕鹽窗，對試樣沒有強烈的溶劑化效應等。
3 . 固體試樣
?。?）壓片法
將1~2mg試樣與200mg純KBr研細均勻，置于模具中，用（5~10）107Pa壓力在油壓機上壓成透明薄片，即可用語測定。試樣和KBr都應經干燥處理，研磨到粒度小于2微米，以免散射光影響。
?。?）石蠟糊法
將干燥處理后的試樣研細，與液體石蠟或全氟代烴混合，調成糊狀，夾在鹽片中測定。
?。?）薄膜法
主要用于高分子化合物的測定?？蓪⑺鼈冎苯蛹訜崛廴谥苹驂褐瞥赡ぁＲ部蓪⒃嚇尤芙庠诘头悬c的易揮發溶劑中，涂在鹽片上，待溶劑揮發后成膜測定。
當樣品量特別少或樣品面積特別小時，采用光束聚光器，并配
有微量液體池、微量固體池和微量氣體池，采用全反射系統或用帶
有鹵化堿透鏡的反射系統進行測量。
紅外光譜的試樣可以是液體、固體或氣體，一般應要求：
（1）試樣應該是單一組份的純物質，純度應>98%或符合商業規格才便于與純物質的標準光譜進行對照。多組份試樣應在測定前盡量預先用分餾、萃取、重結晶或色譜法進行分離提純，否則各組份光譜相互重疊，難于判斷。
（2）試樣中不應含有游離水。水本身有紅外吸收，會嚴重干擾樣品譜，而且會侵蝕吸收池的鹽窗。
?。?）試樣的濃度和測試厚度應選擇適當，以使光譜圖中的大多數吸收峰的透射比處于10%~80%范圍內。
二、制樣的方法
1 .氣體樣品
氣態樣品可在玻璃氣槽內進行測定，它的兩端粘有紅外透光的NaCl或KBr窗片。先將氣槽抽真空，再將試樣注入。
2 . 液體和溶液試樣
?。?）液體池法
沸點較低，揮發性較大的試樣，可注入封閉液體池中，液層厚度一般為0.01~1mm。
（2）液膜法
沸點較高的試樣，直接直接滴在兩片鹽片之間，形成液膜。
對于一些吸收很強的液體，當用調整厚度的方法仍然得不到滿意的譜圖時，可用適當的溶劑配成稀溶液進行測定。一些固體也可以溶液的形式進行測定。常用的紅外光譜溶劑應在所測光譜區內本身沒有強烈的吸收，不侵蝕鹽窗，對試樣沒有強烈的溶劑化效應等。
3 . 固體試樣
?。?）壓片法
將1~2mg試樣與200mg純KBr研細均勻，置于模具中，用（5~10）107Pa壓力在油壓機上壓成透明薄片，即可用語測定。試樣和KBr都應經干燥處理，研磨到粒度小于2微米，以免散射光影響。
?。?）石蠟糊法
將干燥處理后的試樣研細，與液體石蠟或全氟代烴混合，調成糊狀，夾在鹽片中測定。
?。?）薄膜法
主要用于高分子化合物的測定?？蓪⑺鼈冎苯蛹訜崛廴谥苹驂褐瞥赡ぁＲ部蓪⒃嚇尤芙庠诘头悬c的易揮發溶劑中，涂在鹽片上，待溶劑揮發后成膜測定。
當樣品量特別少或樣品面積特別小時，采用光束聚光器，并配
有微量液體池、微量固體池和微量氣體池，采用全反射系統或用帶
有鹵化堿透鏡的反射系統進行測量。