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當前位置：> 供求商機> RLE-SA05-光電探測器特性測量實驗
實驗內容：
1、熱釋電探測器光譜響應特性實驗；
2、硅光電二極管光譜響應曲線測試實驗；
3、幅頻法測量光敏電阻響應速度實驗；
4、脈沖法測量光電二級管響應速度實驗；
5、偏置電壓對光電二極管響應速度影響測試實驗；
6、負載電阻對光電二極管響應速度影響測試實驗。
主要設備參數
1. 光源組件：
白光源：150W鹵素光源，亮度連續可調。
2. 光學調制盤組件：
鏤空圓形結構，25Hz定頻調制。
3. 探測器組件：
光譜響應特性測試電源：25Hz調制盤驅動，檢頻輸出，精密信號放大電路增益150倍；
探測器時間響應測試電源：含硅光二級管、光敏電阻測試，負載電阻可變100Ω～100kΩ，偏置電壓可調5V～15V，內置正弦信號/ 脈沖信號，頻率可調；
光電二極管: 響應波長400nm～1100nm；
熱釋電探測器: 響應波長0.3μm～9μm ；
單色儀：精度0.2nm；光譜范圍400nm～1100nm。
4. 光學組件：
紅外濾光片，Φ25.4mm，帶寬720nm～2500nm。
5. 講義及快速安裝指南。
選配設備參數：
數字示波器：帶寬100MHz，采樣頻率1GHz。nc
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