X-3600是一種體現X射線熒光分析技術進展的能量色散X射線熒光光譜儀。它采用低功率小型X光管為激發源，電制冷硅半導體探測器為探測單元，再加上我公司專門開發的應用軟件，充分發揮各部件的優異性能，保證了整臺儀器的高分辨率及通用適應性。任何需要多元素同時分析的地方，正是它大有作為之處。
產品詳情：
X-3600是一種體現X射線熒光分析技術進展的能量色散X射線熒光光譜儀。它采用低功率小型X光管為激發源，電制冷硅半導體探測器為探測單元，再加上我公司專門開發的應用軟件，充分發揮各部件的優異性能，保證了整臺儀器的高分辨率及通用適應性。任何需要多元素同時分析的地方，正是它大有作為之處。
儀器檢測能力強，分辨率高，適用于各行業對不同元素進行無損檢測。在不同工作環境下分析范圍從Al（13號元素）到U（92號元素）。無損分析迅速，無需制樣，測試時間從幾秒到幾分鐘可調。檢測精度從PPM級別到千分之一級別。
強勢功能
1. 基本參數法對從鋁（13號元素）至鈾（92號元素）定性分析測量。
2．包裹樣品檢測辨別系統。
3．樣品室高清成像定位系統，方便微小樣品定位測量。
4．電制冷與內部雙向循環冷卻恒溫系統相結合，維持內部工作環境穩定。
5. 內部動力學風道設計，快速排出多余熱量。
6．雙峰位快速自動校準。
7．雙箱體結構，抗干擾能力強且方便硬件升級。
8．儀器工作方法任意開發。
9. 定量分析：包括經驗系數法，理論a系數法和基本參數法。
10.定性分析：包括Kl譜線標記法，譜圖比較法，光標自動尋峰等。
11.測試報表根據客戶要求獨立設計。
整機技術規格
1．外型尺寸：600mm×530mm×330mm
2. 可測試樣品大小：關倉測量：220mm×200mm×150mm
開倉測量：無限大
3. 儀器重量：50公斤
4．工作環境溫度：0——35℃
5. 工作環境相對濕度：≤80%
6. 元素分析范圍：鋁（Al）——鈾（U）
7. 含量分析范圍：1PPM——99.999%
8．測量時間:10——180秒可調
9. 激發源：低功率X射線管
10．高壓電源：美國Spellman*高壓電源
11．探測器：美國Amptek*電制冷Si-Pin半導體探測器
12. 儀器分辨率：55Fe的能量為5.9Kev的MnKα線，分辨率優于149eV
13．多道分析器：2048道
14．軟件：基于WINDOWS的強大工作軟件
15. 客戶可進行二次開發，自行開發任意多個分析方法
16．工作電源：交流 220V 50Hz
17
