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為什么研發(fā)過程中用到紅外熱像儀？
在研發(fā)過程中，溫度是影響產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵，利用紅外熱像儀測(cè)量電子元器件發(fā)熱及電路板的熱分布情況，可以分析電路設(shè)計(jì)存在的不足，更全面了解產(chǎn)品缺陷，完善設(shè)計(jì)。
現(xiàn)在跟著小編來了解以下典型應(yīng)用：
一、電路元器件溫升分析
溫度會(huì)影響電路器件的可靠性。隨著溫度增加，電路元器件熱失效率呈指數(shù)增長(zhǎng)，電路元器件的溫度在70℃~80℃水平上每升高1℃，可靠性則下降5%。
二 、電路板溫度場(chǎng)分布分析
合理的元件排布方式，可有效降低溫升，紅外熱像儀可協(xié)助工程師檢測(cè)PCB線路板溫度分布狀態(tài)，避免缺陷，提高產(chǎn)品可靠性。
三 、查找缺陷 分析問題
短路、虛焊、元器件故障會(huì)影響電路正常工作，紅外熱像儀可協(xié)助工程師無需線路圖情況下，迅速定位故障點(diǎn)，提高維修效率。
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testo 890高性能熱像儀——滿足研發(fā)監(jiān)測(cè)需求的一款功能強(qiáng)大的熱像儀
640*480超高紅外探測(cè)器像素，0.04℃的熱靈敏度獲得清晰圖片，區(qū)域細(xì)微溫差
SR紅外超像素功能或瞬間提升紅外像素為1280 * 960，在軟件中展示更銳利的圖像細(xì)節(jié)，呈現(xiàn)報(bào)告
PTA分析功能，不僅可實(shí)時(shí)長(zhǎng)期記錄熱過程的變化，提供任意點(diǎn)溫度趨勢(shì)分析，進(jìn)行線性分析
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