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產(chǎn)品簡介
光譜儀器是測量紫外、可見、近紅外和紅外波段光強度的技術。光譜測量被廣泛應用于多種領域，如顏色測量、化學成份的濃度測量或輻射度學分析、膜厚測量、氣體成分分析等領域。
詳細介紹
產(chǎn)品優(yōu)勢
寬的光譜測量范圍185-1100nm
的測量紫外、可見、近紅外和紅外波段的光譜儀
高品質(zhì)光譜分辨率，zui高可達0.03nm
可同時完成光譜波長與強度分布測量，吸光度測量，色品坐標和顏色測量
精巧的外觀設計，設計均采用通用標準接口
豐富的可選配件，光源、光纖、CCD探頭
無需外接電源，USB直接供電，工作穩(wěn)定
軟件優(yōu)勢
采用USB接口，全面支持Win7系統(tǒng)
軟件自動識別、連接功能，通訊方便，能同時連接多臺光譜儀器
集成多種光譜分析模塊（光譜波長、強度分布測量、吸光度測量、色品坐標、
顏色測量等）
提供多種樣品光譜（標準光源光譜/太陽光光譜/氘燈光譜/汞燈光譜/各類
LED光譜/高低色溫節(jié)能燈光譜；各種玻璃片的吸光度光譜）
方便快捷的數(shù)據(jù)處理功能（將光譜數(shù)據(jù)與圖像導入到Excel、TXT文件中，
同時可保存為*.pdf *.bmp等文件
便捷的智能曝光時間功能
具有光譜錄像功能
| 型號 | AULTT-P2000 | AULTT-P3000 | AULTT-P4000 |
| 有效波長范圍 | 350-1000nm | 200-800nm | 185-1100nm |
| 應用 | 可見波段測量 | 紫外波段測量 | 紫外、可見、紅外測量 |
| zui高分辨率 | 0.03nm | 0.03nm | 0.03nm |
| 波長重復誤差 | < 0.3nm | < 0.3nm | < 0.3nm |
| 探測器（CCD） | 2048單元線陣硅CCD | 3648單元線陣硅CCD | 3648單元線陣硅CCD |
| 狹縫寬度 | 30μm | 30μm | 30μm |
| 光柵 | 600線@450nm | 600線@250nm | 600線@250nm |