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高低溫試驗(yàn)箱必將造成校準(zhǔn)
閱讀：1110 發(fā)布時間：2010-11-10
高低溫試驗(yàn)箱必將造成校準(zhǔn)儀體積較大,且功耗難以控制,不易實(shí)現(xiàn)小型化。為實(shí)現(xiàn)儀表小型化,選用ADuC834 作為*處理器,采用CD4097 和CD4067 設(shè)計(jì)多路選擇電路、A 級Pt100鉑電阻作為溫度傳感器、圖形點(diǎn)陣液晶CAG320240E 作為顯示模塊,設(shè)計(jì)完成后校準(zhǔn)儀的大小和普通萬用表相當(dāng)。
ADuC834 屬于ADI 公司的MicroConverter（精密模擬控制器） 系列產(chǎn)品,其融合了多種精密模擬功能[2 ] ,基于8052 內(nèi)核,單指令周期運(yùn)行,內(nèi)置62 KB 片內(nèi)FLASH 和4 KB 片內(nèi)數(shù)據(jù)存儲器;內(nèi)部集成2 個200μA 恒流源、1 個24 位Σ- △型ADC ,在芯片內(nèi)部ADC 連接有可編程放大器和濾波器,高低溫試驗(yàn)箱在沒有外部濾波器和放大器的情況下,可以直接測量±20 mV～ ±2. 56 V 信號;具備看門狗定時器和電源監(jiān)視器,能夠有效確保巡檢儀運(yùn)行可靠。鑒于ADuC834 內(nèi)部豐富的集成資源,zui終校準(zhǔn)儀硬件電路大大簡化,體積很小,便于攜帶,且功耗能夠有效控制。