能譜掃描電鏡是一種結合了掃描電子顯微鏡和能量散射光譜儀的綜合顯微分析系統。它通過電子束與樣品相互作用產生的信號，實現樣品的形貌觀察及化學成分分析。
設備組成與工作原理
掃描電子顯微鏡(SEM)：組成：包括電子光學系統、掃描系統、信號收集系統、圖像顯示和記錄系統、真空系統及電源系統。
工作原理：利用聚焦后的高能電子束掃描樣品表面，通過電子與樣品原子相互作用產生二次電子、背散射電子等信號。這些信號被探測器捕捉并轉換成圖像，揭示樣品的表面形貌和結構信息。
能譜儀(EDS)：組成：能量分析器、探測器等。
工作原理：檢測電子束與樣品互動時產生的特征X射線，根據能量分布差異區分元素種類，并計算各元素的相對含量。EDS可在真空室條件下用電子束轟擊樣品表面，激發物質發射出特征X射線，實現樣品表面微區成分的定性與半定量分析。
SEM部分：利用聚焦的高能電子束掃描樣品表面，通過電子與樣品原子相互作用產生的二次電子、背散射電子等信號，揭示樣品的表面形貌和結構信息。
EDS部分：在真空室條件下，電子束轟擊樣品表面，激發出特征X射線。根據X射線的能量差異，可以定性和半定量分析樣品表面的元素種類和含量。
具體應用實例
微觀形貌觀察及尺寸測量：如斷口顯微形貌觀察、電子產品內部結構觀察、表面形貌觀察、鍍層厚度測量、錫須長度測量等。
材料微觀結構觀察：用于研究材料的微觀結構和成分分布。
樣品要求：
樣品需為固態，表面導電性良好，無磁性或弱磁性，不易潮解且無揮發性。樣品尺寸需適中，過大時需切割取樣；表面需平整，以滿足定量分析的要求。非導體樣品表面需鍍金或鍍碳處理，以提高導電性。
6
立即詢價
您提交后，專屬客服將第一時間為您服務