XJZ金相顯微鏡采用平場消色差光學系統和落射式柯拉照明系統，同時在落射照明系列中設 計防反結構，有效防止反射光干擾成像光線，從而使成像更清晰、視場襯度 更好，提供穩定可靠的操作機構,使成像更清晰,操作更簡便，廣泛應用于各 類半導體硅晶片檢測、材料科學研究、地質礦物分析及精密工程等學科領 域。顯微鏡鏡體采用全新的人機工程學設計，結構勻稱，實現鏡體擴展積木化，工作臺、光強與粗微調的低位操作。