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產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
高靈敏度?高選擇性
GC/MS可以通過保留時間和質(zhì)譜圖進行化合物確認(rèn)。經(jīng)常被用于痕量物質(zhì)的分析。然而在復(fù)雜基質(zhì)中這項工作變得非常困難。GC/MS/MS提供的多反應(yīng)監(jiān)測模式（MRM）對離子進行兩步電離。選擇性明顯優(yōu)于GCMS。在復(fù)雜基質(zhì)樣品中，即使目標(biāo)化合物不能通過Scan或SIM模式獲得結(jié)果，使用MRM模式可以清晰地被檢測出來。例如，分析食品中的殘留農(nóng)藥。
基于單GC-MS方式的高靈敏度分析
GCMS-TQ8030采用高靈敏度離子源以及OD透鏡，可以高效、選擇性地檢測生成的離子。不僅是基于GC/MS/MS的MRM測定，而且，在GC/MS的SCAN以及SIM測定中也實現(xiàn)了高靈敏度。
快速性能
UFsweeper高效去除碰撞室中的產(chǎn)物離子
UFsweeper為島津*技術(shù)，將碰撞室的所需長度減至zui小限度，實現(xiàn)CID高效率和離子的快速傳輸。通過形成如下圖顯示的模擬電位，進入碰撞室內(nèi)的離子被連續(xù)快速去除，即使在快速測定中也可以有效抑制信號強度下降以及串?dāng)_問題的發(fā)生。
基于ASSP™技術(shù)的快速掃描分析
作為提高實驗室效率、實現(xiàn)更高度的數(shù)據(jù)解析的方法，人們期待著利用Fast-GC/MS法提高分析效率、以Scan與SIM或Scan/MRM同時測定進行準(zhǔn)確的化合物定性/定量解析，這就要求質(zhì)譜儀具有超越以往的快速性能。
GCMS-TQ8030的內(nèi)部硬件設(shè)計配備了在全掃描過程中優(yōu)化離子傳輸速度的設(shè)計。這種技術(shù)稱之為高速掃描控制技術(shù) (ASSP™)，是在高達(dá)20,000u/秒高速采集時獲得高質(zhì)量質(zhì)譜圖的關(guān)鍵。
對應(yīng)快速MRM測定
Fast-GC/MS的峰洗脫時間非常短，峰尖銳，需要進行快速MRM測定。20,000u/秒的高速掃描能力和Ufsweeper技術(shù)使得快速MRM成為可能
輕松自如的操作性與設(shè)計
AART功能自動校正MRM保留時間
Easy sTop功能減少維護時的停機時間
兼?zhèn)湓O(shè)計性與功能性的裝置設(shè)計
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