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高功率微波在片測試系統通過驗收
最近更新時間：2013-6-14
提 供 商：上海研生實業有限公司資料大小：82.7KB
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詳細介紹：
高功率微波在片測試系統通過驗收
2月24日，由中科院上海微系統所孫曉瑋研究員承擔的2006年度院科研裝備研制項目“高功率微波在片測試系統”正式驗收。驗收會由院計劃財務局田東生主持。
測試專家組通過對設備技術指標的現場測試及實驗記錄核實，一致認為“高功率微波在片測試系統”各項測試技術指標均滿足合同要求。驗收專家組聽取了項目組的工作總結報告和測試組的測試報告，審查了項目組提供的技術報告等有關資料，進行了充分提問和熱烈討論，并現場核實設備的就位和運行狀態，認為“高功率微波在片測試系統”基于脈沖直流饋電偏置方法，結合負載牽引阻抗調配技術，實現了微波功率芯片*匹配條件下的zui大輸出功率的在片測試功能；測量采用軟件同步，完成了測試軟件平臺建立，通過在片自動微波功率芯片的測試系統中應用，證明該平臺運行可靠、測量算法正確、系統校準方法可信。儀器運行正常、達到預定技術指標、技術檔案齊全、經費使用合理，專家組一致同意通過項目驗收。
“高功率微波在片測試系統”項目是微系統所承擔的中科院第二項儀器研制項目， 該項目在儀器的功能集成創新、系統智能化自動控制等方面取得創新性研究成果，項目在執行過程中，申請中國發明1項和獲得集成電路布圖設計登記3項，發表SCI等收錄的學術論文6篇，培養了研究生2名。該項目的驗收標志著微系統所的儀器研制水平又上了一個新臺階。