《GJB4.10-83艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)霉菌試驗(yàn)》長(zhǎng)霉試驗(yàn)通常限于檢驗(yàn)是否用了適當(dāng)?shù)脑筒牧稀Ｍㄟ^材料元件、零部件或小的組合件等試驗(yàn)，很容易正確地獲得所需要的許多重要數(shù)據(jù)；長(zhǎng)霉試驗(yàn)是對(duì)試驗(yàn)新產(chǎn)品準(zhǔn)備運(yùn)行非常有利霉菌生長(zhǎng)條件下所作的zui后檢測(cè)。通過試驗(yàn)可以檢測(cè)出具有良好設(shè)計(jì)性能的產(chǎn)品發(fā)生任何故障的性質(zhì)。

綜上所述，長(zhǎng)霉（霉菌）試驗(yàn)是鑒定樣品及其材料在有利于霉菌生長(zhǎng)的氣候條件下的長(zhǎng)霉程度和由于長(zhǎng)霉引起的表面變化和性能影響。

交變霉菌試驗(yàn)箱是讓試驗(yàn)樣品在一個(gè)理想的，適宜霉菌孢子快速生長(zhǎng)的氣候環(huán)境中，人為考核試驗(yàn)樣品及其結(jié)構(gòu)材料的抗霉性能，及長(zhǎng)霉對(duì)試驗(yàn)樣品電氣、機(jī)械性能影響的試驗(yàn)設(shè)備。