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奧林巴斯OLS4100對透明樣品的透明層及基底進行觀察和測量

閱讀：1639 發布時間：2017-8-24

硅片或玻璃基底上覆有一層透明薄膜，LEXT OLS4100可透過薄膜觀測基底的表面形貌

硅片基底光刻表面形貌測試圖

LEXT OLS4100全新的多層模式則可以識別多層樣品各層上反射光強度的峰值區域，并將各層設為焦點，這樣既可實現對透明樣品上表面的觀察和測量，而且也可以對多層樣品的各層進行分析和測量。

透明樣品內層表面形貌觀察和測量

多層模式功能，可以分析透明體層，它可以測量透明層下的幾何形狀和表面粗糙度和膜層的厚度，即使樣品涂有塑料的玻璃基板。

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