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在底片黑度,像質計靈敏度符合要求的情況下,哪些缺陷仍會漏檢?

閱讀:2566        發布時間:2016-12-30

(1)小缺陷。如果小缺陷的影像尺寸小于不清晰度尺寸,影像對比度小于zui小可見對比度,便不能識別。因此對一定的透照條件,存在著一個可檢出缺陷的臨界尺寸,小于臨界尺寸的缺陷便不能檢出;例如小氣孔、夾渣、微裂紋、白點等。

(2)與照射方向不平行的平面缺陷。平面型缺陷具有方向性,當缺陷平面與射線之間夾角過大,會使對比度降低,甚至在底片上不產生影像,從而造成漏檢。例如坡口及層間未熔合、鋼板分層的漏檢以及透照工藝不當,0角過大造成橫向裂紋漏檢均屬此類情況。

(3)閉合緊密的缺陷。對某些緊閉缺陷即使透照角度在允許范圍內,仍不能產生足夠的透照厚度差,從而造成漏檢。例如緊閉的裂紋、未熔合、鍛件中的折迭等。

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