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JC511-CIT-3000SM--能量色散X熒光分析儀 X熒光分析儀詳細介紹
適用于礦山、選礦廠、冶煉廠、水泥等企業在生產過程中對產品質量進行監測；
1. JC511-CIT-3000SM產品配置：
采用進口的美國AMPTEK航天技術的SI（PIN）半導體探測器系列
采用*數字脈沖采集電路及的電源管理技術
采用進口X光管
采用的X射線高壓發生器
采用RS232串口通訊
采用精密的系統控制電路和數字處理電路
采用專有的分析算法軟件模塊V2.0A
配備品牌電腦
配備常用的制樣工具
配備的壓片機
配備的測試樣環
配備的測試硬標樣
2.JC511-CIT-3000SM 技術指標：
分析元素范圍：Mg-U（主要是：Mg、Al、Si、P、S、Ca、Fe、Mn、Cu、Pb、Zn、Cr、Br、Cd）；
元素含量分析范圍：1ppm -99.99%（采用1024道多道分析器，分析精度更高）；
采用美國航天技術的Si （PIN）半導體探測器計數，配合的數字脈沖處理技術；
測量范圍：1－30KeV；
管壓：0kV-30kV（激發源為 30KV-鎢靶微型X射線管）；
管流：5μA-200μA；（可減少整機功耗和降低輻射）；
整機功率：50W；
整機能量分辨率：150±5eV；
檢測時間： <200S；
工作環境溫度：溫度0-40℃；
工作環境相對濕度：≤99%（不結露）；
測量物質狀態：固體、粉末均可檢測，制樣簡單；
一體化設計，性能穩定，運行可靠，性價比高；操作簡單，測量時間短；
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