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詳細摘要： 直徑40試驗探棒符合IEC60335-2-14：20.103、GB4706-30：20.103等標準條款要求，直徑:40㎜，末端為半球形。

詳細摘要： 直徑3試驗探針廠家直供：ZLT-P05A符合IEC60884：24.11及GB2099：24.11標準條款要求，用于對移動式插座用于懸掛到墻壁上的空間與帶電部件之間的隔層進行機械應(yīng)力試驗。

詳細摘要： 直徑3試驗探針符合IEC 1010、IEC60335-2-25:22.105、GB4706：22.105、EN61010-1、UL3101-1、 UL3111-1 and CSA1010-1等標準要求，用于對操作微波爐的隱蔽的門聯(lián)鎖裝置。

詳細摘要： 試具探針：ZLT-P04符合IEC60065：9.1.3、GB8898:9.1.3、EN61010-1, UL3101-1, and CSA 1010-1等標準條款要求。

詳細摘要： 劃痕工具，IEC60335圖102：符合GB4706.13圖102等標準要求，用于對家電中所有受保護冷卻系統(tǒng)的易觸及元件表面，包括與受保護冷卻系統(tǒng)緊密接觸的易觸及表面進行刮擦試驗。

詳細摘要： 直徑8試驗探棒符合IEC60335-2-14：20.102、GB4706-30：20.102等標準條款要求，直徑:8㎜，長:80㎜，配手柄。

詳細摘要： 試驗探頭，通訊端測試棒符合IEC60950圖2C、GB4943圖2C、IEC60065、GB8898等標準要求，用于對信息技術(shù)設(shè)備的TNV電路的裸露部件是否有足夠的保護。

詳細摘要： 帶推力試驗探針符合GB2099-2008圖10、IEC60884圖10等標準要求，用于對帶保護門的帶電部件及有加強保護插座的帶電部件的不可觸及性的檢驗。

詳細摘要： 帶推力試驗探針：ZLT-I20符合GB2099-2008圖9、IEC60884圖9等標準要求，用于檢驗帶保護門的插座的帶電部件是否觸及。

詳細摘要： 試驗鉤，IEC60065圖4 ZLT-I18符合GB8898圖4、IEC60065圖4等標準要求，用于檢驗危險帶電零部件是否被觸及。

詳細摘要： 試具43探針，IEC61032圖17試具43 ZLT-I17 符合IEC61032圖17試具43、GB/T16842試具43等標準要求，用于檢驗固定式或便攜式可見熱輻射取曖器的保護。

詳細摘要： 試驗探針，試驗探棒，IEC61032圖16試具41：ZLT-I16符合IEC61032圖16試具41、GB/T16842試具41、IEC60335、GB4706、GB8898、IEC60065等標準要求，用于檢驗灼熱部件被觸及。

詳細摘要： 試具32探針，IEC61032圖15試具32 ZLT-I15：符合IEC61032圖15試具32、GB/T16842試具32要求，用于檢驗風扇外罩的防止觸及危險機械部件的作用，配尼龍手柄。

詳細摘要： 試具31探針符合IEC61032圖14試具31、GB/T16842試具31要求，用于檢驗殘剩余食品處理裝置的碾磨系統(tǒng)的危險機械部件是否被觸及。

詳細摘要： IEC兒童試驗指，IEC61032圖13試具19 ZLT-I13指符合IEC61032圖13試具19要求，用于模擬36個月及以下的兒童是否觸及危險部件。

詳細摘要： 試具17探針符合IEC61032圖11試具17要求，用于檢驗電動玩具的帶電部件是否被觸及，配尼龍手柄。

詳細摘要： 試具14探針符合IEC61032圖10試具14要求，用于檢驗通過電氣插座的防護外罩能否觸及內(nèi)部的危險帶電部件，配尼龍手柄。

詳細摘要： 試驗銷,試驗指針銷，IEC61032試具13 ZLT-I13：符合IEC61032圖9試具13、GB/T16842試具13、IEC60950圖2B、IEC60335、GB4706、GB8898、IEC60065等標準，用于檢驗0類設(shè)備和Ⅱ類設(shè)備中危險的帶電部件是否被觸及。

詳細摘要： IP40防護等級試具，IP4X試驗探棒符合IEC61032圖4試具D、IEC60529IP3、GB4208IP4、GB/T16842試具D、GB8898、IEC60065、IEC60598、GB7000等標準要求。用于防止手持金屬絲觸及的防護檢驗。

詳細摘要： 試具D探針，IP40防護試具符合IEC61032圖4試具D、IEC60529IP3、GB4208IP4、GB/T16842試具D、GB8898、IEC60065、IEC60598、GB7000等標準要求。用于防止手持金屬絲觸及的防護檢驗。