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PCT加速壽命試驗機理論依據(jù)
閱讀：1387 發(fā)布時間：2014-1-8
PCT加速壽命試驗機理論依據(jù)：電子元器件的失效原因與器件本身所選用的材料、材料之間、器件表面或體內(nèi)、金屬化系統(tǒng)以及封裝結構中存在的各種化 學、物理的反應有關。器件從出廠經(jīng)過貯存、運輸、使用到失效的壽命周期，*不在進行著緩慢的化學物理變化。在各種外界環(huán)境下，器件還會承受了各種 熱、電、機械應力，會使原來的化學物理反應加速，而其中溫度應力對失效為敏感。實踐證明，當溫度升高以后，器件劣化的物理化學反應加快，失效過程加速， 而Arrhenius模型就總結了由溫度應力決定的化學反應速度依賴關系的規(guī)律性，為PCT試驗機提供了理論依據(jù)。