高加速加壓試驗(yàn)測(cè)試箱HAST Test用途介紹

高加速溫濕度及偏壓測(cè)試Highly Accelerated Stress Test具備75%～100%R.H非飽和蒸汽、高溫、高濕、高氣壓等測(cè)試功能，一般以?130℃，85%R.H，1.1 VCC，Static bias，2.3 atm，的測(cè)試條件對(duì)半導(dǎo)體元器件、晶硅太陽(yáng)能電池、磁性材料、IC芯片、PCB板、EVA、OLED等產(chǎn)品進(jìn)行100hous以內(nèi)的抵抗?jié)穸饶芰图铀倨涫н^(guò)程，是檢驗(yàn)產(chǎn)品的電離腐蝕與封裝密封性。符合GB/T 2423.40-2013 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cx，使其快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)，是提高試驗(yàn)效率與縮短產(chǎn)品試驗(yàn)周期的可靠性試驗(yàn)設(shè)備。

高加速加壓試驗(yàn)測(cè)試箱HAST Test控制系統(tǒng)

1.微電腦飽和蒸氣溫度+時(shí)間LED顯示器控制器, 壓力+指針式顯示表。

2.本系統(tǒng)符合高壓加速老化之可靠度試驗(yàn)規(guī)格：CNS、ISO、JIS、ASTM、DIN、BS、IEC、 NACE、UL、MIL。

3.控制對(duì)象：微電腦+P.I.D.+S.S.R自動(dòng)演算控制飽和蒸氣溫度。

4.控制方式：微電腦控制，可程序及定值設(shè)定，大1000組程序記憶，每組200段次、999循環(huán)次數(shù)。

5.溫度控制精度：±0.5℃。

6.解析精度：±0.01℃/±0.1%R.H。

7.壓力控制精度：±0.15KG。

高加速加壓試驗(yàn)測(cè)試箱技術(shù)指標(biāo)

1.溫度范圍: ＋105℃～＋135℃。

2.溫度波動(dòng)度: ±0.5℃。

3.溫度均勻度: ±1.5℃。

4.濕度范圍: 75%～100%R.H。（可范圍內(nèi)調(diào)節(jié)）

5.濕度波動(dòng)度: ±1.5%R.H。

6.濕度均勻度: ±3.0%R.H。

7.壓力范圍：1.0kg/cm2～3.0kg/cm2。

8.循環(huán)方式: 水蒸氣自然對(duì)流循環(huán)。

9.測(cè)時(shí)間設(shè)置：0～999 Hr。

10.加壓時(shí)間：0.00kg/cm2～2.00kg/cm2約30分鐘。

12.升溫時(shí)間: 由常溫升至＋132℃約30分鐘非線性空載。

13.溫度變化速率為空氣溫度平均變化速率,而非產(chǎn)品溫度變化速率。

14.在無(wú)試驗(yàn)負(fù)荷、無(wú)層架情況下穩(wěn)定30分鐘后測(cè)定的性能。

15.關(guān)于溫度上升及下降時(shí)間是指風(fēng)冷式在周圍環(huán)境溫度為26℃±5℃,時(shí)所測(cè)量的性能。

16.溫濕度傳感器設(shè)置于空調(diào)箱出風(fēng)口處。

17.溫濕度均勻度定義為：實(shí)驗(yàn)室?guī)缀沃行狞c(diǎn)處，溫濕度時(shí)的所測(cè)之資料。

18.以上數(shù)據(jù)性能，測(cè)量，計(jì)算方法參照GB5170.2、GB5170.5的方法測(cè)定。

19.hast試驗(yàn)箱型號(hào)及規(guī)格選擇如下:

高加速加壓試驗(yàn)測(cè)試箱執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)

1.MIL-STD810D方法502.2。

2.GJB150.9-8溫濕試驗(yàn)。

3.LEC60068-2-66試驗(yàn)。

4.JESD22-A102-B試驗(yàn)。

5.JESD22-A110

6.GB/T2423.40-1997試驗(yàn)。

7.GB/T10586-1989濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件。

8.GB2423.3-93（IEC68-2-3）恒定濕熱試驗(yàn)。

9.GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2溫濕度、高壓組合循環(huán)試驗(yàn)。