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| 產地類別 | 國產 | 應用領域 | 電子/電池,電氣,綜合 |
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產品簡介
詳細介紹
高壓蒸煮試驗測試箱Pressure Cook Test概述
Pressure Cook Test專業制造商與供應商。PCT所激發對IC芯片封裝、半導體元器件、集成電路、PCB板等故障模態與HAST類似。二者提供的AF相差無幾，一般應用130℃，100%RH，Static bias，15PSIG（2 atm），168hou或96hous的試驗條件引起封裝焊線拉起、芯片基座粘附性差、界面剝離、焊接基座的腐蝕、金屬化合或是引線開路等。是評估IC產品在高溫，高濕，高氣壓條件下對濕度的抵抗能力，加速其失效過程的可靠性測試設備。
高壓蒸煮試驗測試箱Pressure Cook Test技術參數
型 號： | ZK-PCT-25L | ZK-PCT-35L | ZK-PCT-45L | ZK-PCT-65L |
內部尺寸(W×H×D)mm： | Φ250×300 | Φ300×450 | Φ450×500 | Φ600×650 |
外箱尺寸(W×H×D)mm： | 500×500×700 | 580×850×650 | 800×750×900 | 950×900×1100 |
使用溫度： | 121℃；132℃；(143℃特殊選用) | |||
使用濕度： | 100％RH飽和蒸氣濕度 | |||
使用蒸氣壓力(壓力)： | 1個環境大氣壓 +0.0Kg/cm2 - 2.0Kg/cm2 ；(3.0Kg/cm2屬于特殊規格) | |||
循環方式： | 水蒸氣自然對流循環 | |||
安全保護裝置： | 缺水保護，超壓保護、 (具有自動/手動補水功能，自動瀉壓功能) | |||
配 件： | 不銹鋼隔板兩層 | |||
電 源： | AC220V，50／60Hz／AC380V , 50／60Hz | |||
高壓蒸煮試驗測試箱執行與滿足標準
1.IEC60068-2-66。
2.JESD22-A102-B。
3.EIAJED4701。
4.EIA/JESD22。
5.JESD22-A102
6.EIAJED- 4701-B123
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