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湖南艾克賽普測控科技有限公司

艾克賽普多通道光電器件測試解決方案

時間:2024-8-13 閱讀:442
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隨著光通信行業的核心組件光模塊邁向800G/1.6T的時代,光模塊的通道數量逐漸增加,同時,隨著硅光技術的發展,器件密度也顯著提高。這為光電器件或硅光芯片的測試要求,比如激光器和調制器的LIV掃描測試帶來了更高的挑戰,需要測試設備具備更高的通道密度、更小的體積、更快的測試速度以及更高的測量精度。


一、20路并行使用的SMU源表需要占用多少體積?

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二、PXI平臺-SMU源表

PXI平臺提供高精度和高通道密度的SMU源表,可以滿足硅光芯片和光電器件DC測試需求。結合配套的Optoelectronic Component Test Software,實現快速的測試開發和部署,加速產品上市時間。

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三、PXI平臺-其他電學與光學儀表

PXI平臺同時支持豐富的光學儀器儀表,可覆蓋硅光芯片的典型測項。通過進一步的集成搭建更緊湊、高效協同的光模塊測試系統。

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