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等離子體光譜儀誤差的區(qū)分及其產生原因
等離子體光譜儀采用原子發(fā)射光譜學的分析原理，樣品經過電弧或火花放電激發(fā)成原子蒸汽，蒸汽中原子或離子被激發(fā)后產生發(fā)射光譜，發(fā)射光譜經光導纖維進入光譜儀分光室色散成各光譜波段，根據每個元素發(fā)射波長范圍，通過光電管測量每個元素的譜線，每種元素發(fā)射光譜譜線強度正比于樣品中該元素含量，通過內部預制校正曲線可以測定含量，直接以百分比濃度顯示。
系統(tǒng)誤差是指在一定試驗條件下由某個或某些因素按照某一確定的規(guī)律起作用而形成的誤差。它決定了測試結果的度，系統(tǒng)誤差的大小和符號在同一試驗中是恒定的，改變試驗條件時按照確定的規(guī)律變化。重復測定不能發(fā)現和減少系統(tǒng)誤差，只有改變試驗條件才能發(fā)現系統(tǒng)誤差。測定結果與真實值偏離的程度越小，測定結果越正確，系統(tǒng)誤差就越小。一旦發(fā)現有系統(tǒng)誤差，一定要找出原因，設法避免和校正。
隨機誤差是具有隨機性的誤差，出現這種現象是一系列偶然因素（如測定環(huán)境的溫度、濕度、振動、灰塵、油污、老化和儀器性能等）微小隨機波動造成的。如果對樣品只進行一次測定，其測定值可能比真值大也可能比真值小。它的出現決定了測定結果的精密度。隨機誤差是一種無規(guī)律性的誤差，在分析過程中總是存在的。其性質是有時大，有時小，有時正，有時負，而產生的原因又無法控制。所以只有通過多次測量并取平均值，才可以減小隨機誤差。
等離子體光譜儀是原子光譜的一種，有關原子光譜的種類參見第1章節(jié)有關內容。等離子體光譜儀是處于激發(fā)態(tài)的待測元素原子回到基態(tài)時發(fā)射的譜線等離子體光譜法包括2個主要的過程，即：激發(fā)過程和發(fā)射過程。
(1)激發(fā)過程由光源提供能量使樣品蒸發(fā)、形成氣態(tài)原子、并進一步使氣態(tài)原子激發(fā)至高能態(tài)。原子發(fā)射光譜中常用的光源有火焰、電弧、等離子炬等，其作用是使待測物質轉化為氣態(tài)原子，氣態(tài)原子的外層電子激發(fā)過程獲得能量，變?yōu)榧ぐl(fā)態(tài)(高能態(tài))原子。
(2)發(fā)射過程處于激發(fā)態(tài)(高能態(tài))的原子十分不穩(wěn)定，在很短時間內回到基態(tài)(低能態(tài))。當從激發(fā)態(tài)過渡到低能態(tài)或基態(tài)時產生特征發(fā)射光譜即為原子發(fā)射光譜。一由于發(fā)射光譜與光源連續(xù)光譜混合在一起，且原子發(fā)射光譜本身也十分豐富，必須將光源發(fā)出的復合光經單色器分解成按波長順序排列的譜線，形成可被檢測器檢測的光譜，儀器用檢測器檢測光譜中譜線的波長和強度。