- 通用測試儀器
-
干燥箱 可編程光波處理器 光譜儀 脈沖半導體激光管測試系統 X射線檢測 激光開封系統 真有效值電子記錄萬用表 測量頭 調節器 測試電纜 測試儀 光纖認證儀 測試平臺 測試頭 采樣示波器模塊 穩定光源 背反射器 瞬斷器 檢測器 激光鎖 損耗計 反射計 可調諧濾波器 電氣遠程采樣頭模塊 偏振態光學測試儀 階段參考模塊 光采樣模塊 寬帶光源 精密反射儀 測試夾具 參考發射模塊 控制器 混合信號 函數發生器 全自動RIE反應離子刻蝕機 掃描電鏡納米壓痕儀 濕法刻蝕顯影機 三維X射線顯微鏡 原子力顯微鏡 分光光度計 真空離子規模塊 光學氣體熱像儀 多功能酶標儀 萬用表 便攜式分析儀 矢量測試儀 波形發生器 微波網絡分析儀 主頻標準 偏置網絡 矢量網絡分析儀 可調諧激光源 網絡測試儀 噪聲系數分析儀 光時域反射計 阻抗分析儀 偏振光源 控制夾具 脈沖中等電流源表模塊 光波測量系統 光通訊測試儀器 數字電視測試儀器 信號分析儀 信號發生器
- KEYSIGHT/美國是德
- Agilent/安捷倫
- 其他品牌
- TeKtronix/美國泰克
- R&S/羅德與施瓦茨
- Santec/日本
- FLUKE/福祿克
- EXFO/加拿大
- Keithley/美國吉時利
- YOKOGAWA/日本橫河
- Anritsu/安立
- ESPEC/愛斯佩克
- SRS/斯坦福
- HP/惠普
- Ceyear/思儀
- SIGLENT/鼎陽
- 美國力科
- ADCMT/愛德萬
- Bristol/美國
- FUJIKURA/藤倉
- Newport/美國
- HIOKI/日本日置
- SUMITOMO/住友
- LitePoint/萊特波特
- KIKUSUI/日本菊水
- 古河蓄電池
- OLYMPUS/奧林巴斯
- BCHP/中惠普
- OceanOptics/海洋光學
- RIGOL/普源
- SHIMADZU/島津
- ITECH/艾德克斯
- General Photonics
- ThermoTST
- Bruker/布魯克
- Thorlabs
- inTEST
- SPIRENT/思博倫
- GWINSTEK/中國臺灣固緯
- Hitachi/日立
- VIAVI
- YINUO/一諾儀器
- Waters/沃特世
- PICOTEST/中國臺灣儀鼎
- UNI-T/優利德
- Ophir
- BIRD/美國鳥牌
- Chroma/致茂
- KEYENCE/基恩士
- AMETEK/阿美特克
- Mettler Toledo/梅特勒托利多
- OMRON/歐姆龍
- TESEQ/特測
- 中國臺灣博計
- EEC/中國臺灣華儀
- AP（Audio Precision）/美國
- 同惠電子
- HAMEG/德國惠美
- Nikon/日本尼康
- TDK-LAMBDA/日本
- 常州安柏
- NOISEKEN
- 盛普 SP
- DEIF/丹麥
- Quantum Opus
- Aeroflex
